X-ray imaging of single semi-conductor nanostructures for photonics and electronics

Abstract only

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Veröffentlicht in:Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances Foundations and advances, 2017-12, Vol.73 (a2), p.C501-C501
Hauptverfasser: Favre-Nicolin, Vincent, Girard, Gaétan, Eymery, Joël, Leake, Steven, Mandula, Ondrej, Elzo-Aizarna, Marta, Andrieu, François, Berthelon, Remy, Gerard, Jean-Michel, Claudon, Julien
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:Abstract only
ISSN:2053-2733
2053-2733
DOI:10.1107/S2053273317090726