Preface of the special issue of the 21st IMEKO TC-4, and 19th International Workshop on ADC Modelling and Testing

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Measurement : journal of the International Measurement Confederation 2017-12, Vol.111, p.411-411
Hauptverfasser:	Dabóczi, Tamás, Dallet, Dominique
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Engineering Sciences Micro and nanotechnologies Microelectronics
Online-Zugang:	Volltext
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