Theoretical insights and experimental characterization of HfO 2 -based OxRRAMs operation

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Veröffentlicht in:Journal of computational electronics 2017-12, Vol.16 (4), p.1045-1056
Hauptverfasser: Traore, Boubacar, Blaise, Patrick, Vianello, E., Sklenard, B.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1569-8025
1572-8137
DOI:10.1007/s10825-017-1085-5