Raman characterization of twinning in heteroepitaxial semiconductor layers: GaAs/(Ca,Sr)F2

Detailed analysis of Raman spectra recorded from (100)-oriented GaAs layers grown by molecular-beam epitaxy on the lattice-matched insulator (Ca,Sr)F2 gives evidence of internal misorientation effects (twins). This analysis accounts for the various phenomena (doping, disorder, electron-phonon coupli...

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Veröffentlicht in:Journal of applied physics 1986-08, Vol.60 (3), p.1025-1031
Hauptverfasser: LANDA, G, CARLES, R, RENUCCI, J. B, FONTAINE, C, BEDEL, E, MUNOZ-YAGUE, A
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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