Monte Carlo simulation of charge exchange processes in the scattering of 4 keV He+ ions by an amorphous silicon surface

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms Beam interactions with materials and atoms, 2007-05, Vol.258 (1), p.40-43
Hauptverfasser:	Khalal-Kouache, K., Chami, A.C., Boudjema, M., Bénazeth, Claude
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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