X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for 3D grain mapping of polycrystals. Part I: direct beam case

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of applied crystallography 2008, p.302-309
Hauptverfasser:	Ludwig, Wolfgang, Schmidt, S., Laurdisen, E.M., Poulsen, H.F.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Engineering Sciences Materials
Online-Zugang:	Volltext
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