Control of Yeast Fed-Batch Cultures using Minimal a priori Process Knowledge and Measurement Information

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of process control 2006-04, p.1-10
Hauptverfasser: Renard, F., Vande Wouwer, A., Valentinotti, S., Dumur, Didier
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0959-1524