Effects of RF life-test on LF electrical parameters of GaAs power MESFETs

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Microelectronics and reliability 1999, Vol.39
Hauptverfasser:	Malbert, Nathalie, Lambert, Benoit, Maneux, Cristell, Labat, Nathalie, Touboul, Andre, Danto, Yves, K.J. Vandamme, Lode, Huguet, Pierre, Auxemery, P., Garat, François
Format:	Artikel
Sprache:	fre
Schlagworte:	Engineering Sciences Micro and nanotechnologies Microelectronics
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!