On-wafer low frequency noise measurements of SiGe HBTs: Impact of technological improvements on 1/f noise

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Microelectronics and reliability 2004, Vol.1
Hauptverfasser:	Grandchamp, Brice, Maneux, Cristell, Labat, Nathalie, Touboul, Andre, Zimmer, Thomas
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Engineering Sciences Micro and nanotechnologies Microelectronics
Online-Zugang:	Volltext
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