Experimental evaluation of gate architecture influence on multi-gate Silicon On Insulator MOSFETs performance

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electron devices 2005, Vol.52, p.1772-11779
1. Verfasser:	Widiez J. Lolivier M. Vinet T. Poiroux B. Previtali F. Daugé M. Mouis S. Deleonibus, J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Engineering Sciences Micro and nanotechnologies Microelectronics
Online-Zugang:	Volltext
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