Thin films of vanadium oxide grown on vanadium metal: oxidation to produce V2O5 films for Li-intercalation applications and characterisation by XPS, AFM, RBS/NRA

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Surface and interface analysis 2006, Vol.38, p.6-18
1. Verfasser:	Lindström V. Maurice S. Zanna L. Klein H. Groult L. Perrigaud C. Cohen And P. Marcus, R.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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