Teager-Kaiser energy and higher order operators in white light interference microscopy for surface shape measurement

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:EURASIP journal on applied signal processing 2005, Vol.17, p.2804-2815
Hauptverfasser: Salzenstein, Fabien, Montgomery, Paul, Montaner, Denis, Boudraa, A.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1110-8657
1687-0433