Teager-Kaiser energy and higher order operators in white light interference microscopy for surface shape measurement
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Veröffentlicht in: | EURASIP journal on applied signal processing 2005, Vol.17, p.2804-2815 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 1110-8657 1687-0433 |