AVF stressmark: towards an automated methodology for bounding the worst-case vulnerability to soft errors

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Nair, Arun Arvind, John, Lizy Kurian, Eeckhout, Lieven
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	eng
Schlagworte:	computer architecture reliability Technology and Engineering
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