Effect of misclassification due to measurement error on the power of control chart for proportions

Las p-cartas juegan un rol importante en el control de la proporción de artículos defectuosos producidos. En años recientes investigadores de varios procedimientos de control de la calidad consideran la posibilidad de errores de mala clasificación como un aspecto importante. En el presente traba...

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Veröffentlicht in:Investigación operacional 2016-09, Vol.37 (3), p.258
Hauptverfasser: Chakraborty, Ashit B, Khurshid, Anwer
Format: Artikel
Sprache:spa
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:Las p-cartas juegan un rol importante en el control de la proporción de artículos defectuosos producidos. En años recientes investigadores de varios procedimientos de control de la calidad consideran la posibilidad de errores de mala clasificación como un aspecto importante. En el presente trabajo, un método para obtener la expresión de la potencia de la carta de control para la distribución binomial (proporción de defectuosos) ha sido estudiada considerando expresiones aproximadas para calcular las probabilidades de error de mala clasificación debido a errores de medición. Fórmulas son derivadas para calcularlas. La relación entre la aparente fracción de defectuosos (AFD) y la verdadera (TFD) son usadas para estudias la potencia de la carta de control. The p chart plays the important role in controlling the proportion of defective items produced. In recent years researchers in various quality control procedures consider the possibility of misclassification errors as an important issue. In the present paper, a method of obtaining the expression of the power of control chart for binomial distribution (proportion of defectives) is being studied by considering approximate expressions for calculating the probabilities of errors of misclassification due to measurement error. Formulae are derived for calculating probabilities of misclassification due to measurement error. The relationship between apparent fraction defective (AFD) and true fraction defective (TFD) has been used to study the power of control chart. KEYWORDS: Measurement error, misclassification, binomial distribution, power. MSC: 62P30
ISSN:0257-4306