Ion-plasma treatment of reed switch contacts: A study by time-of-flight secondary ion mass spectrometry

A TOF.SIMS-5 time-of-flight secondary ion mass spectrometer operating with pulsed 25-keV Bi + ions for analysis and 2-keV Cs + ions for sputter ion-beam etching was employed for studying the near-surface composition of iron-nickel (permalloy) contacts (blades) after the treatment in pulsed nitrogen...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of analytical chemistry (New York, N.Y.) N.Y.), 2014-12, Vol.69 (13), p.1245-1251
Hauptverfasser:	Tolstoguzov, A. B., Drozdov, M. N., Zeltser, I. A., Arushanov, K. A., Teodoro, Orlando M. N. D.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analysis Analytical Chemistry Chemistry Chemistry and Materials Science Magnetic alloys Mass spectrometry
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!