Novel in-line applications of atomic force microscopy

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Solid state technology 1996-05, Vol.39 (5), p.109
Hauptverfasser:	Wilder, Kathryn, Singh, Bhanwar, Arnold, William H
Format:	Magazinearticle
Sprache:	eng
Schlagworte:	Atomic force microscopy Equipment and supplies Instrument industry Mensuration
Online-Zugang:	Volltext
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