Modeling of level of defects in electronics systems/Elektroniniu sistemu defektyvumo modeliavimas

This publication is about continuous between-operational control main probabilities characteristics modelling techniques for multilevel ES, when separate independent parameters defect level probabilities distributions are set (known) in chosen control schematics. Made ES defect level probability den...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Elektronika ir elektrotechnika 2010-03 (3(99)), p.13
1. Verfasser: Eidukas, D
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!