Structural and Electric Characteristics of Two-Layer Bi.sub.4Ti.sub.3O.sub.12

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physics of the solid state 2019-02, Vol.61 (2), p.139
Hauptverfasser:	Anokhin, A. S, Biryukov, S. V, Golovko, Yu. I, Mukhortov, V. M
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Crystal structure Silicon Thin films
Online-Zugang:	Volltext
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