System and method for testing the shape of an object to be tested

Die vorliegende Erfindung betrifft ein System zum Prüfen der Form eines Prüfobjekts aufweisend: eine Objektprüfstrecke mit zumindest einem auf der Objektprüfstrecke angeordneten Objektprüfpunkt, eine Objektzufuhreinheit, die derart eingerichtet ist, dass sie das Prüfobjekt der Objektprüfstrecke zufü...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Rojtberg, Pavel, Gorschlüter, Felix, Bockholt, Ulrich, Bertz, Alexander, Carl, Daniel
Format: Patent
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:Die vorliegende Erfindung betrifft ein System zum Prüfen der Form eines Prüfobjekts aufweisend: eine Objektprüfstrecke mit zumindest einem auf der Objektprüfstrecke angeordneten Objektprüfpunkt, eine Objektzufuhreinheit, die derart eingerichtet ist, dass sie das Prüfobjekt der Objektprüfstrecke zuführt, so dass sich in einem Betrieb des Systems das Prüfobjekt auf der Objektprüfstrecke bewegt, eine Objektbeleuchtungseinheit, die derart eingerichtet und angeordnet ist, dass sie in dem Betrieb des Systems das Prüfobjekt zumindest an dem Objektprüfpunkt mit elektromagnetischer Strahlung beleuchtet, eine Objekterfassungseinheit, die derart eingerichtet und angeordnet ist, dass sie in dem Betrieb des Systems das Prüfobjekt zumindest an dem Objektprüfpunkt aus einer Mehrzahl von Raumrichtungen erfasst und Prüfobjektdaten generiert, und eine computergestützte Auswerteeinheit, die derart wirksam mit der Objekterfassungseinheit verbunden ist, dass sie in dem Betrieb des Systems die Prüfobjektdaten von der Objekterfassungseinheit erhält, und die derart eingerichtet ist, dass sie die Prüfobjektdaten mit Referenzmodelldaten für das Prüfobjekt vergleicht und eine Abweichung zwischen den Prüfobjektdaten und den Referenzmodelldaten erfasst. Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein solches System bereitzustellen, um Objekte zu prüfen, die in großen Stückzahlen und/oder in hohen Taktzeiten gefertigt werden, und das ohne aufwändiges Handling. Zur Lösung dieser Aufgabe wird vorgeschlagen, dass das System der eingangs genannten Art darüber hinaus eine Streueinheit mit einer Wandinnenfläche aufweist, wobei die Wandinnenfläche die Objektprüfstrecke teilkugelschalenförmig oder in Form einer Schale eines konvexen Polyeders umgibt mit zumindest einer Öffnung für das Prüfobjekt und wobei die Wandinnenfläche derart ausgestaltet ist, dass sie die elektromagnetische Strahlung diffus reflektiert oder streut, und die Objektbeleuchtungseinheit und die Streueinheit derart zueinander angeordnet sind, dass die elektromagnetische Strahlung das Prüfobjekt an dem Objektprüfpunkt aus allen von der Wandinnenfläche abgedeckten Raumrichtungen beleuchtet.