ALLELIC LADDERS FOR SHORT TANDEM REPEAT LOCI

Allelic ladders of short tandem repeat (STR) loci selected from the group consisting of D16S539, D7S820, D13S317, and D5S818; methods for their use in analyzing STR polymorphisms, and kits containing the allelic ladders are disclosed. La présente invention concerne des échelles allèles pour des locu...

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Hauptverfasser: RABBACH, DAWN, R, SCHUMM, JAMES, W, MICKA, KATHERINE, A
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Allelic ladders of short tandem repeat (STR) loci selected from the group consisting of D16S539, D7S820, D13S317, and D5S818; methods for their use in analyzing STR polymorphisms, and kits containing the allelic ladders are disclosed. La présente invention concerne des échelles allèles pour des locus de répétition tandem courts (STR) sélectionnées à partir du groupe constitué par D16S539, D7S820, D13S317, et D5S818, cette invention concernant par ailleurs leurs procédés d'utilisation dans l'analyse des polymorphismes des STR ainsi que des kits contenant ces échelles allèles.