MEASUREMENT OF GROOVES AND LONG WAVES ON RAILS WITH A LONGITUDINAL STREAK OF LIGHT
Es wird ein Verfahren zur Messung von durch Riffel oder lange Wellen gebildete Unebenheiten in der Oberfläche von Objekten, insbesondere in der Fahrfläche (111) von Schienen (11) von einer Messplattform (13) aus angegeben, das berührungslos misst, robust gegenüber der Relativbewegung von Messplattfo...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; ger |
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Zusammenfassung: | Es wird ein Verfahren zur Messung von durch Riffel oder lange Wellen gebildete Unebenheiten in der Oberfläche von Objekten, insbesondere in der Fahrfläche (111) von Schienen (11) von einer Messplattform (13) aus angegeben, das berührungslos misst, robust gegenüber der Relativbewegung von Messplattform (13) und Objekt ist und unabhängig von der Geschwindigkeit der Relativbewegung gleich gute Messergebnisse liefert. Hierzu wird von der Messplattform (13) aus ein in Bewegungsrichtung sich erstreckender Lichtstrich (19) unter einem zur Oberflächennormalen festen Projektionswinkel auf die Oberfläche projiziert. Der Lichtstrich (19) wird mit einer Vielzahl von aufeinanderfolgenden Momentaufnahmen auf einem an der Messplattform (13) mit einem gegenüber dem Projektionswinkel gekippten Aufnahmewinkel fest angeordneten, flächenhaft positionsempfindlichen Fotoempfänger (18) so abgebildet, dass die Vielzahl der Lichtstrichabbildungen die Oberfläche längs der Bewegungsrichtung zumindest lückenlos erfasst. Aus den Deformationen in der Vielzahl der Lichtstrichabbildungen wird das Oberflächenprofil längs der Bewegungsrichtung bestimmt.
The invention relates to a method for measuring unevenness created by grooves or long waves in the surface of an object, especially the travelling surface (111) of rails (111), from a measuring platform (13). The inventive measuring process occurs without contact, is largely unaffected by the relative movement of the measuring platform (13) and the object, and delivers good measuring results irrespective of the speed of the relative movement. According to the invention, a streak of light (19) is projected from the measuring platform (13) onto the surface, extending in the direction of movement. The angle of projection of said streak of light is fixed in relation to the surface normal. The streak of light (19) is represented by a plurality of successive instantaneous exposures on a photo-receiver (18) in such a way that the plurality of light streak images covers the surface along the rail in the direction of movement, at least without any gaps. Said photo-receiver (18) is arranged in a fixed position on the measuring platform (13), the exposure angle being tilted in relation to the angle of projection, and is sensitive to position to a large extent. The longitudinal profile of the surface in the direction of movement is then determined from the deformations in the plurality of light-streak images.
L'invention concerne un procédé pour mesure |
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