SOURCE SYNCHRONOUS INTERFACE BETWEEN MASTER AND SLAVE USING A DESKEW LATCH
A source synchronous interface between a master device (100) and a slave device (120) described. The master device having a plurality of deskew latches (220) is coupled to the slave device via a bus. The master device communicates commands and first timing information to the slave device via the bus...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A source synchronous interface between a master device (100) and a slave device (120) described. The master device having a plurality of deskew latches (220) is coupled to the slave device via a bus. The master device communicates commands and first timing information to the slave device via the bus. In response, the slave device communicates data and second timing information to the master device via the bus. When data is communicated from the slave device to the master device, the data is stored in one of the plurality of deskew latches until accessed by the master device. The plurality of deskew latches ensure that the master device will always read valid data for the full range of skew of the first and second timing information.
La présente invention se rapporte à une interface à synchronisme source entre un dispositif maître (100) et un dispositif asservi (120). Le dispositif maître comportant une pluralité de tampons de réalignement (220) est couplé au dispositif asservi via un bus. Le dispositif maître envoie via le bus des commandes et une première information de synchronisation au dispositif asservi. En réaction, le dispositif asservi envoie via le bus des données et une deuxième information de synchronisation au dispositif maître. Le principe utilisé pour l'envoi des données du dispositif asservi au dispositif maître est de conserver ces données dans l'un des différents tampons de réalignement jusqu'à ce qu'il y soit fait accès par le dispositif maître. L'utilisation de plusieurs tampons de réalignement garantit que le dispositif maître lit systématiquement des données valides pour l'ensemble de la portée de défauts d'alignement correspondant à la première et à la deuxième information de synchronisation. |
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