WAVEFRONT MEASURING SYSTEM WITH INTEGRAL GEOMETRIC REFERENCE (IGR)

A geometric sensor includes a Monolithic Lenslet Module (MLM) subaperture array (22) having a plurality of microlenses (40), each of which have an opaque center marking formed concentric with the micolens optical axis (44), at the location of the lens chief ray, to produce an integral geometric refe...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	SCHMUTZ, LAWRENCE, E
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre
Schlagworte:	COLORIMETRY MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT MEASURING PHYSICS RADIATION PYROMETRY TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	A geometric sensor includes a Monolithic Lenslet Module (MLM) subaperture array (22) having a plurality of microlenses (40), each of which have an opaque center marking formed concentric with the micolens optical axis (44), at the location of the lens chief ray, to produce an integral geometric reference (IGR) spot pattern of the lens array which is used to correct for sensor errors to an accuracy comparable with that achieved with reference plane wave calibration. Capteur géométrique comprenant une série (22) d'ouvertures secondaires de module de lentille monolithique (MLM) abritant une série de microlentilles (40) dont chacune présente un marquage central opaque réalisé de manière concentrique par rapport à l'axe optique (44), au droit du rayon principal de la lentille, de sorte que soit produit un schéma de point de référence stéréoscopique de la série de lentilles utilisée pour corriger les erreurs de capteur selon une précision comparable à celle obtenue avec un étalonnage en ondes planes de référence.