PROCESS, DEVICE AND USE THEREOF FOR DETERMINING THE THICKNESS OR COLOUR SPECTRUM OF LAYERS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KIECKHAEFER, JOERG, ZHOU, PING
Format:	Patent
Sprache:	eng ; ger
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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