RESOLUTION ENHANCEMENT FOR DUAL HEAD GAMMA CAMERA

An apparatus and method for enhancing the resolution of an Emission Computed Tomography image in a nuclear camera system that is configurable to perform both Positron Emission Tomography and Single Photon Emission Computed Tomography imaging is disclosed. The apparatus includes a crystal (81) that interacts with gamma rays to create scintillation events within the surface of the crystal (81). The gamma rays that impinge the crystal (81) have an incident angle that is limited by a field of view of the crystal (81). Positioned behind the crystal (81) is a detector (80) that responds to the light photons released by each scintillation event and registers a coordinate value of each scintillation event. Coupled to the detector (80) is a resolution enhancer that generates an in-crystal plane displacement correction value for each coordinate value registered by the detector (80). The in-crystal plane displacement correction value is then combined with the coordinate value to compute the actual entry point of the gamma ray into the crystal. L'invention porte sur un appareil et un procédé destinés à améliorer la résolution d'une image obtenue par tomographie par émission assistée par ordinateur dans un système de caméras nucléaire pouvant être configuré soit pour des tomographies par émission de positrons, soit pour des tomographies par émission monophotonique assistées par ordinateur. L'appareil comporte un cristal (81) interagissant avec les rayons gamma pour créer des événements de scintillation à la surface dudit cristal (81). Les rayons gamma frappant le cristal (81) ont un angle d'incidence limité par le champ de vision du cristal (81). Placé derrière le cristal (81) se trouve un détecteur (80) répondant aux photons émis lors de chaque production d'événements et enregistre l'une des coordonnées de chaque événement de scintillation. Relié au détecteur (80) se trouve un affineur de résolution qui élabore pour chacune des coordonnées enregistrées par le détecteur (80) une correction de déplacement dans le plan du cristal. Ladite correction est ensuite combinée à la valeur des coordonnées pour calculer le point effectif de pénétration du rayon gamma dans le cristal.