STRUCTURE AND METHOD FOR TESTING WIRING SEGMENTS IN AN INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
According to the present invention, means are provided for joining metal wire segments into one or more serpentine structures during the testing phase so that a signal applied at one end will be detected at the other end if the metal segments are continuous. Metal segments connected into one serpent...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | According to the present invention, means are provided for joining metal wire segments into one or more serpentine structures during the testing phase so that a signal applied at one end will be detected at the other end if the metal segments are continuous. Metal segments connected into one serpentine chain can be simultaneouly tested for continuity from a single origin and destination. Preferably two serpentine chains are provided, physically interdigitated with each other so that electrical shorts between adjacent wire segments will cause a signal applied to one serpentine chain to be detected on the other serpentine chain.
Selon la présente invention, des moyens sont prévus pour réunir des segments de fils métalliques en une ou plusieurs structures sinueuses au cours de la phase de vérification, de sorte qu'un signal appliqué à une extrémité sera détecté à l'autre extrémité si les segments métalliques sont continus. L'on peut simultanément vérifier la continuité des segments reliés en une chaîne sinueuse à partir d'une origine et d'une destination uniques. Deux chaînes sinueuses sont de préférence prévues, lesquelles sont physiquement interconnectées de sorte que des courts-circuits électriques entre des segments de fil adjacents permettent à un signal appliqué à une chaîne d'être détecté sur l'autre chaîne sinueuse. |
---|