DRIVER CIRCUIT FOR TESTING BI-DIRECTIONAL TRANSCEIVER SEMICONDUCTOR PRODUCTS

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On décrit un circuit de commande destiné à tester des produits semi-conducteurs pour émetteurs-récepteurs bidirectionnels aussi vite que possible et à l'aide d'un minimun de broches d'accès aux produits. Le circuit comporte une paire de sources de courant à amplitude commandée dont on...

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Hauptverfasser: HOFFMAN, DALE, EUGENE, GRUODIS, ALGIRDAS, JOSEPH, SKOOGLUND, DANIEL, EDWARD, CHANG, ALBERT, YUAN
Format: Patent
Sprache:eng
Schlagworte:
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
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creator HOFFMAN, DALE, EUGENE
GRUODIS, ALGIRDAS, JOSEPH
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CHANG, ALBERT, YUAN
description On décrit un circuit de commande destiné à tester des produits semi-conducteurs pour émetteurs-récepteurs bidirectionnels aussi vite que possible et à l'aide d'un minimun de broches d'accès aux produits. Le circuit comporte une paire de sources de courant à amplitude commandée dont on commute les courants de sortie de manière sélective à l'entrée dans les émetteurs normaux d'un commutateur de courant, ou en partie à la sortie de ceux-ci. Le commutateur de courant est excité par une source de tension variable et produit la tension de sortie de test.
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Le circuit comporte une paire de sources de courant à amplitude commandée dont on commute les courants de sortie de manière sélective à l'entrée dans les émetteurs normaux d'un commutateur de courant, ou en partie à la sortie de ceux-ci. 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Le circuit comporte une paire de sources de courant à amplitude commandée dont on commute les courants de sortie de manière sélective à l'entrée dans les émetteurs normaux d'un commutateur de courant, ou en partie à la sortie de ceux-ci. Le commutateur de courant est excité par une source de tension variable et produit la tension de sortie de test.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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