DRIVER CIRCUIT FOR TESTING BI-DIRECTIONAL TRANSCEIVER SEMICONDUCTOR PRODUCTS

On décrit un circuit de commande destiné à tester des produits semi-conducteurs pour émetteurs-récepteurs bidirectionnels aussi vite que possible et à l'aide d'un minimun de broches d'accès aux produits. Le circuit comporte une paire de sources de courant à amplitude commandée dont on...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	HOFFMAN, DALE, EUGENE, GRUODIS, ALGIRDAS, JOSEPH, SKOOGLUND, DANIEL, EDWARD, CHANG, ALBERT, YUAN
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	On décrit un circuit de commande destiné à tester des produits semi-conducteurs pour émetteurs-récepteurs bidirectionnels aussi vite que possible et à l'aide d'un minimun de broches d'accès aux produits. Le circuit comporte une paire de sources de courant à amplitude commandée dont on commute les courants de sortie de manière sélective à l'entrée dans les émetteurs normaux d'un commutateur de courant, ou en partie à la sortie de ceux-ci. Le commutateur de courant est excité par une source de tension variable et produit la tension de sortie de test.