ON-CHIP TEST TONE GENERATOR FOR BUILT-IN SPUR TESTING

An apparatus is disclosed that implements an on-chip test tone generator for built-in spur testing. In an example aspect, the apparatus includes an integrated circuit with a test tone generator, at least one reference signal generator, and at least one signal propagation path. The test tone generator includes an amplitude control circuit. The at least one signal propagation path includes a transceiver path, a mixer, and a switch. The transceiver path is configured to be coupled to an antenna. The mixer has a first input coupled to the at least one reference signal generator. The switch is configured to selectively couple a second input of the mixer to the transceiver path or the amplitude control circuit of the at least one test tone generator. L'invention divulgue un appareil qui met en œuvre un générateur de tonalité de test sur puce pour un test de parasite intégré. Selon un aspect donné à titre d'exemple, l'appareil comprend un circuit intégré pourvu d'un générateur de tonalité de test, au moins un générateur de signal de référence et au moins un trajet de propagation de signal. Le générateur de tonalité de test comprend un circuit de commande d'amplitude. Le ou les trajets de propagation de signal comprennent un trajet d'émetteur-récepteur, un mélangeur et un commutateur. Le trajet d'émetteur-récepteur est configuré pour être couplé à une antenne. Le mélangeur a une première entrée couplée à l'au moins un générateur de signal de référence. Le commutateur est configuré pour coupler sélectivement une seconde entrée du mélangeur au trajet d'émetteur-récepteur ou au circuit de commande d'amplitude du ou des générateurs de tonalité de test.