TEST BOARD FOR CHARACTERIZING DENDRITE GROWTH IN IMMERSION-COOLING SYSTEMS
A test board assembly is configured to characterize dendrite formation on circuit elements exposed to immersion cooling liquid in immersion-cooling systems. The test board assembly and testing apparatus can emulate operating conditions for high-power semiconductor dies without using the semiconducto...
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| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| Zusammenfassung: | A test board assembly is configured to characterize dendrite formation on circuit elements exposed to immersion cooling liquid in immersion-cooling systems. The test board assembly and testing apparatus can emulate operating conditions for high-power semiconductor dies without using the semiconductor dies in the test board assembly.
Un ensemble carte de test est conçu pour caractériser la formation de dendrites sur des éléments de circuit exposés à un liquide de refroidissement par immersion dans des systèmes de refroidissement par immersion. L'ensemble carte de test et l'appareil de test peuvent émuler des conditions de fonctionnement pour des puces semi-conductrices de haute puissance sans utiliser les puces semi-conductrices dans l'ensemble carte de test. |
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