TERAHERTZ SCANNING SYSTEM

A terahertz scanning system (11; 12; 13) is described. The terahertz scanning system (11; 12; 13) comprises a terahertz source (2) for emitting a terahertz pulse signal (3) into a region under inspection (4) and a terahertz detector (5) for receiving a reflected terahertz pulse signal (6) from the region under inspection (4) and providing a corresponding measurement signal (7). The terahertz scanning system (11; 12; 13) also comprises a contact pressure sensor (9) for determining a contact pressure applied to a surface (11) of the region under inspection (4) and a processing system (8). The processing system (8) is configured, in response to receiving first and second measurement signals: to compare a first measurement signal with a second measurement signal or with a reference measurement signal, the first measurement signal obtained at a first time at which a first contact pressure has been applied for a first contact duration, the second measurement signal obtained at a second time at which a second contact pressure has been applied for a second contact duration; to determine a degree of deviation between the first measurement signal and the second measurement signal or the reference measurement signal; and in dependence on the degree of deviation, to identify a state of the region under inspection (4). L'invention concerne un système de balayage térahertz (11 ; 12 ; 13). Le système de balayage térahertz (11 ; 12 ; 13) comprend une source térahertz (2) permettant d'émettre un signal d'impulsion térahertz (3) dans une région en cours d'inspection (4) et un détecteur térahertz (5) permettant de recevoir un signal d'impulsion térahertz réfléchi (6) par la région en cours d'inspection (4) et de fournir un signal de mesure correspondant (7). Le système de balayage térahertz (11 ; 12 ; 13) comprend également un capteur de pression de contact (9) permettant de déterminer une pression de contact appliquée à une surface (11) de la région en cours d'inspection (4) et un système de traitement (8). Le système de traitement (8) est configuré pour, en réponse à la réception de premier et second signaux de mesure : comparer un premier signal de mesure à un second signal de mesure ou à un signal de mesure de référence, le premier signal de mesure étant obtenu à un premier instant où une première pression de contact a été appliquée pendant une première durée de contact, le second signal de mesure étant obtenu à un second instant où une seconde pression de contact a été