A PROBE HEAD HAVING HIGH FREQUENCY PERFORMANCES

A probe head (100) for the testing of electronic devices is herein described, the probe head having at least one contact probe (10) which comprises a body (10') which extends between a first end (10a) and a second end (10b), said ends (10a, 10b) being adapted to contact respective contact pads (20a, 30b), and at least one guide (40) comprising at least one guide hole (40h) configured for housing at least one portion of the contact probe (10). The contact probe (10) comprises at least one intermediate section (10s) arranged between the first end (10a) and the second end (10b) which intermediate section is elastically compliant, wherein the contact probe (10) has a length which is less than 2000 µm, preferably less than 1000 µm, still more preferably equal to or less than 800 µm, said length being measured along a longitudinal axis (H-H), and wherein said probe head (100) further comprises a conductive portion (21) formed on the guide (40), said conductive portion (21) including at least one group (40h') of said guide holes (40h) and being adapted to contact and short-circuit a corresponding group of contact probes that are housed in said group (40h') of holes and are intended to carry a given type of signal, thereby forming a given conductive domain, wherein at least one portion of the contact probe (10) is in contact with said conductive portion (21). L'invention concerne une tête de sonde (100) pour tester des dispositifs électroniques, la tête de sonde comportant au moins une sonde de contact (10) composée d'un corps (10') qui s'étend entre une première extrémité (10a) et une seconde extrémité (10b), lesdites extrémités (10a, 10b) étant configurées pour entrer en contact avec des pastilles de contact respectives (20a, 30b), et au moins un guide (40) comprenant au moins un trou de guidage (40h) configuré pour loger au moins une partie de la sonde de contact (10). La sonde de contact (10) comprend au moins une section intermédiaire (10s) disposée entre la première extrémité (10a) et la seconde extrémité (10b), laquelle section intermédiaire étant élastiquement déformable, la longueur de la sonde de contact (10) étant inférieure à 2000 µm, de préférence inférieure à 1000 µm, encore plus préférablement égale ou inférieure à 800 µm, ladite longueur étant mesurée le long d'un axe longitudinal (H-H), et ladite tête de sonde (100) comprenant en outre une partie conductrice (21) formée sur le guide (40), ladite partie conductrice (21) comprenant au moins un group