PROBE HEAD WITH AN IMPROVED CONFIGURATION
A probe head (100) for the testing of electronic devices is herein disclosed, the probe head having at least one contact probe (10) comprising a body (10') which extends between a first end (10a) and a second end (10b), said ends (10a, 10b) being adapted to contact respective contact pads (20a,...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A probe head (100) for the testing of electronic devices is herein disclosed, the probe head having at least one contact probe (10) comprising a body (10') which extends between a first end (10a) and a second end (10b), said ends (10a, 10b) being adapted to contact respective contact pads (20a, 30b), a first guide (40a) comprising respective first guide holes (40ah), and a second guide (40b) comprising respective second guide holes (40bh). The contact probe (10) comprises at least one intermediate section (10s) arranged between the first end (10a) and the second end (10b) which is elastically compliant; the elastically compliant intermediate section (10s) is arranged at at least one of said first guide holes (40ah) and second guide holes (40bh); the contact probe (10) further comprises intermediate stop means arranged between said first guide (40a) and said second guide (40b), said intermediate stop means being configured to mechanically contact at least a portion of said first guide (40a) and/or said second guide (40b) for holding the contact probe (10) inside the probe head (100).
L'invention concerne une tête de sonde (100) pour tests de dispositifs électroniques, la tête de sonde comportant au moins une sonde de contact (10) comprenant un corps (10') qui s'étend entre une première extrémité (10a) et une seconde extrémité (10b), lesdites extrémités (10a, 10b) étant conçues pour entrer en contact avec des pastilles de contact respectives (20a, 30b), un premier guide (40a) comprenant des premiers trous de guidage respectifs (40ah), et un second guide (40b) comprenant des seconds trous de guidage respectifs (40 bh). La sonde de contact (10) comprend au moins une section intermédiaire (10s) disposée entre la première extrémité (10a) et la seconde extrémité (10b) élastiquement déformable ; la section intermédiaire élastiquement déformable (10s) est disposée au niveau d'au moins l'un desdits premiers trous de guidage (40ah) et des seconds trous de guidage (40 bh) ; la sonde de contact (10) comprend en outre des moyens d'arrêt intermédiaires disposés entre ledit premier guide (40a) et ledit second guide (40b), lesdits moyens d'arrêt intermédiaires étant configurés pour entrer en contact mécanique avec au moins une partie dudit premier guide (40a) et/ou dudit second guide (40b) afin de maintenir la sonde de contact (10) à l'intérieur de la tête de sonde (100). |
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