TEST SOCKET

The present invention relates to a test socket, and more specifically, to a test socket for electrically connecting, to a testing board of a testing device, a device to be tested having a plurality of terminals, the test socket comprising: a housing mounted on the testing board and having a testing connector arranged therein; a cover coupled to the housing so as to be vertically movable; a latch device, which is operatively connected to the housing and the cover, is interconnected with movement of the cover, and moves between a pressing position at which the device to be tested is pressed onto the testing connector and a releasing position at which the device to be tested can be released from the testing connector; and a heating device which is provided at the latch device, and which is in contact with the device to be tested at the pressing position so as to raise the temperature of the device to be tested. La présente invention concerne une prise de vérification, et plus particulièrement une prise de vérification pour connecter électriquement un dispositif à tester ayant une pluralité de bornes à une carte de test d'un dispositif de test, la prise de vérification comprenant : un boîtier monté sur la carte de test et dans lequel est disposé un connecteur de test ; un couvercle accouplé au boîtier de manière à pouvoir se déplacer verticalement ; un dispositif de verrouillage, relié de manière opérationnelle au boîtier et au couvercle, associé au mouvement du couvercle et se déplaçant entre une position de pression dans laquelle le dispositif à tester est pressé sur le connecteur de test et une position de libération dans laquelle le dispositif à tester peut être libéré du connecteur de test ; et un dispositif de chauffage disposé sur le dispositif de verrouillage et en contact avec le dispositif à tester dans la position de pression afin d'élever la température du dispositif à tester. 본 발명은 테스트 소켓에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 복수의 단자를 갖는 피검사 디바이스와, 검사장치의 검사보드를 서로 전기적 접속시키는 테스트 소켓이며, 상기 검사 보드의 상부에 탑재되며 내부에 검사용 커넥터가 배치되는 하우징; 상기 하우징에 수직방향으로 이동가능하게 결합되는 커버; 상기 하우징과 상기 커버에 작동적으로 연결되고 상기 커버의 이동에 연동하며, 상기 피검사 디바이스를 검사용 커넥터에 가압하는 가압위치와, 상기 피검사 디바이스를 검사용 커넥터에 해제가능하게 하는 해제위치 사이를 이동하는 래치장치; 및 상기 래치장치에 설치되며 상기 가압위치에서 피검사 디바이스에 접촉하여 피검사 디바이스의 온도를 상승시키는 발열장치를 포함하는 테스트 소켓에 대한 것이다.