METHOD FOR EVALUATING OBJECT TO BE CHEWED, OBJECT TO BE CHEWED, METHOD FOR PRODUCING OBJECT TO BE CHEWED, SYSTEM FOR EVALUATING OBJECT TO BE CHEWED, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
A method for evaluating an object to be chewed includes: repeatedly compressing the object to be chewed; and performing regression analysis using one or more process condition parameters that are based on one or more process conditions pertaining to the repeated compression process as explanatory va...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; jpn |
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Zusammenfassung: | A method for evaluating an object to be chewed includes: repeatedly compressing the object to be chewed; and performing regression analysis using one or more process condition parameters that are based on one or more process conditions pertaining to the repeated compression process as explanatory variables, and using a measurement parameter that is based on one or more measurement values selected from the group consisting of measurement values measured from the object to be chewed during the repeated compression process and measurement values measured from the object to be chewed after the repeated compression process as an objective variable.
L'invention concerne un procédé d'évaluation d'un objet à mâcher comprenant : la compression répétée de l'objet à mâcher ; et la réalisation d'une analyse de régression à l'aide d'un ou plusieurs paramètres de conditions de processus basés sur une ou plusieurs conditions de processus relatives au processus de compression répétée en tant que variables explicatives, et en utilisant comme variable objective un paramètre de mesure basé sur une ou plusieurs valeurs de mesure sélectionnées dans le groupe constitué des valeurs de mesure mesurées sur l'objet à mâcher pendant le processus de compression répétée et des valeurs de mesure mesurées sur l'objet à mâcher après le processus de compression répétée.
咀嚼対象物を評価する方法であって、前記咀嚼対象物を反復圧縮処理すること、及び前記反復圧縮処理の1つ以上の処理条件に基づく1つ以上の処理条件パラメータを説明変数とし、前記反復圧縮処理中の前記咀嚼対象物から計測される計測値及び前記反復圧縮処理後の前記咀嚼対象物から計測される計測値からなる群から選択される1つ以上の計測値に基づく計測パラメータを目的変数として、回帰分析を行うことを含む、方法。 |
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