METHOD FOR MEASURING AND/OR COMPENSATING FOR AN ABERRATION IN AN IMAGE ACQUIRED BY AN OPTICAL INSTRUMENT COMPRISING A MULTISPECTRAL DETECTOR ARRAY

The invention relates to a method (100) for measuring an aberration in an image acquired by a detector array and a plurality of spectral filter arrays, the method comprising the following steps: acquiring (101) a known point source; determining (102) an initial value (VIP) of the parameters of a model of an impulse response; sampling (103); calculating (104) a cost according to a distance between the calculated impulse response and the observed impulse response; calculating (105) an overall cost (CG) for all of the spectral bands; estimating (102bis) a value (VEP) of each parameter; sampling (103bis); calculating (104bis) the cost; calculating (105bis) the overall cost (NCG); comparing (106) the overall cost (NCG) with the overall cost (CG); repeating (107). Procédé (100) de mesure d'une aberration dans une image acquise par une matrice de détecteurs, et une pluralité de matrices de filtres spectraux, comprenant les étapes suivantes : acquisition (101) d'une source ponctuelle connue; détermination (102) d'une valeur initiale (VIP) des paramètres d'un modèle d'une réponse impulsionnelle; échantillonnage (103), calcul (104) d'un coût fonction d'une distance entre la réponse impulsionnelle calculée et la réponse impulsionnelle observée; calcul (105) d'un coût global (CG) pour l'ensemble des bandes spectrales; estimation (102bis) d'une valeur (VEP) de chaque paramètre; échantillonnage (103bis); calcul (104bis) du coût; calcul (105bis) du coût global (NCG); comparaison (106) entre le coût global (NCG) et le coût global (CG);répéter (107).