THERMAL IMAGING INCLUDING AN EXTENDED SHORT WAVE INFRARED LIGHT SOURCE
An infrared imaging system includes a detector configured to detect wavelengths in a first infrared wavelength band and a second infrared wavelength band, shorter than the first infrared wavelength band, wherein the second infrared wavelength band is an extended short wavelength infrared band; and a...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | An infrared imaging system includes a detector configured to detect wavelengths in a first infrared wavelength band and a second infrared wavelength band, shorter than the first infrared wavelength band, wherein the second infrared wavelength band is an extended short wavelength infrared band; and a light source configured to output light in the second infrared wavelength band to an object radiating the first infrared wavelength.
Un système d'imagerie infrarouge comprend un détecteur configuré pour détecter des longueurs d'onde dans une première bande de longueur d'onde infrarouge et une seconde bande de longueur d'onde infrarouge, plus courte que la première bande de longueur d'onde infrarouge, la seconde bande de longueur d'onde infrarouge étant une bande infrarouge à courte longueur d'onde étendue ; et une source de lumière configurée pour émettre de la lumière dans la seconde bande de longueur d'onde infrarouge vers un objet rayonnant la première longueur d'onde infrarouge. |
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