METHOD FOR ADAPTING THE FREQUENCY RESPONSE OF A RADIOFREQUENCY DEVICE
The present invention relates to a method for adapting the frequency response of a waveguide device obtained by additive manufacturing, the device including a semi-finished metal core comprising side walls having outer and inner surfaces, the inner surfaces defining an inner opening of the device, t...
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | The present invention relates to a method for adapting the frequency response of a waveguide device obtained by additive manufacturing, the device including a semi-finished metal core comprising side walls having outer and inner surfaces, the inner surfaces defining an inner opening of the device, the method comprising the steps of: a. measuring a frequency response of the device in order to produce a first measurement of the frequency response; b. chemically polishing the metal core by dipping in order to reduce a thickness of the side walls according to the first measurement and to increase a volume of the inner opening; and c. measuring the frequency response of the device in order to produce a second measurement of the frequency response; repeating steps a. to c. until the second measurement is within a determined range of values.
La présente invention concerne un procédé d'adaptation de réponse en fréquence d'un dispositif à guide d'ondes obtenu par fabrication additive, le dispositif comportant une âme métallique semi-finie comprenant parois latérales possédant des surfaces externes et internes, les surfaces internes définissant une ouverture interne du dispositif, comprenant les étapes de : a. mesurer une réponse en fréquence du dispositif afin de produire une première mesure de la réponse en fréquence; b. polir chimiquement l'âme métallique par trempage afin de réduire une épaisseur des parois latérales en fonction de la première mesure et d'augmenter un volume de l'ouverture interne; c. mesurer la réponse en fréquence du dispositif afin de produire une deuxième mesure de la réponse en fréquence; itérer les étapes a. à c. jusqu'à ce que la deuxième mesure se situe dans une plage de valeurs déterminée. |
---|