MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT SYSTEM, AND MEASUREMENT METHOD

One embodiment according to a technology of the present disclosure provides a measurement device, a measurement system, and a measurement method which can accurately calibrate a Doppler shift. Provided is a measurement device according to an aspect of the present invention, wherein a processor: acqu...

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1. Verfasser: ISHIZUKA Yuya
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:One embodiment according to a technology of the present disclosure provides a measurement device, a measurement system, and a measurement method which can accurately calibrate a Doppler shift. Provided is a measurement device according to an aspect of the present invention, wherein a processor: acquires first scan data including information that is obtained by scanning a portion-to-be-measured of an object with a laser scanner in a first direction and indicates a first distance from the laser scanner to the portion-to-be-measured; acquires second scan data including information that is obtained by scanning the portion-to-be-measured of the object with the laser scanner in a second direction different from the first direction and indicates a second distance from the laser scanner to the portion-to-be-measured; and calculates calibrated data obtained by removing an effect of the Doppler shift from the first scan data and the second scan data by executing an averaging process on the first scan data and the second scan data. Un mode de réalisation selon une technologie de la présente divulgation concerne un dispositif de mesure, un système de mesure et un procédé de mesure qui peuvent étalonner avec précision un décalage Doppler. Un aspect de la présente invention concerne un dispositif de mesure, dans lequel un processeur : acquiert des premières données de balayage incluant des informations qui sont obtenues par balayage d'une portion à mesurer d'un objet avec un dispositif de balayage laser dans une première direction et indique une première distance entre le dispositif de balayage laser et la portion à mesurer ; acquiert des deuxièmes données de balayage incluant des informations qui sont obtenues par balayage de la portion à mesurer de l'objet avec le dispositif de balayage laser dans une deuxièmes direction différente de la première direction et indique une deuxième distance entre le dispositif de balayage laser et la portion à mesurer ; et calcule des données étalonnées obtenues par élimination d'un effet du décalage Doppler des premières données de balayage et des deuxièmes données de balayage par exécution d'un processus de moyennage sur les premières données de balayage et les deuxièmes données de balayage. 本開示の技術に係る一つの実施形態は、ドップラシフトを精度良く校正することができる計測装置、計測システム、及び計測方法を提供する。本発明の一態様に係る計測装置において、プロセッサは、対象物の被計測部分をレーザスキャナで第1方向にスキャンして得られた、レーザスキャナから被計測部分までの距離である第1距離を示す情報を含む第1スキャンデータを取得し、対象物の被計測部分をレーザスキャナで第1方向とは異なる第2方向にスキャンして得られた、レーザスキャナから被計測部分までの距離である第2距離を示す情報を