DIRECT CONVERSION SPECTRAL X-RAY DETECTION

A method for direct conversion spectral X-ray detection is provided, the method comprising measuring (Si l), by employing a first pulse shaper having a first shaping time constant and a second pulse shaper having a second shaping time constant, a first signal generated by X-ray-generated electrons and a second signal generated by X-ray-generated holes, the first shaping time constant being different from the second shaping time constant, and generating (S12) a detector output, wherein the detector output comprises a combination of the first signal and the second signal. Generating the detector output comprises a depth-of interaction determination (SI 2d), based on relative signal magnitudes of the first signal and the second signal. L'invention concerne un procédé de détection spectrale de rayons X à conversion directe, le procédé comprenant la mesure (Si l), en utilisant un premier conformateur d'impulsions ayant une première constante de temps de mise en forme et un second conformateur d'impulsions ayant une seconde constante de temps de mise en forme, d'un premier signal généré par des électrons générés par des rayons X et d'un second signal généré par des trous générés par rayons X, la première constante de temps de mise en forme étant différente de la seconde constante de temps de mise en forme, et la génération (S12) d'une sortie de détecteur, la sortie de détecteur comprenant une combinaison du premier signal et du second signal. La génération de la sortie de détecteur comprend une détermination de profondeur d'interaction (SI 2d), sur la base des amplitudes de signaux relatives du premier signal et du second signal.