SYSTEMS, METHODS, DEVICES, AND PLATFORMS FOR INDUSTRIAL INTERNET OF THINGS

In example embodiments, a method of detecting an anomaly associated with a machine includes recording a data set associated with the machine; determining, by a first machine learning model, a label associated with the data set; determining whether the label is to be reviewed; and responsive to deter...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: LOCKE, Andrew, STEIN, David, MCGUCKIN, Jeffrey, DOBROWITSKY, Joshua, DUFFY, JR, HOGAN, Matthew, CARDNO, Andrew, MOHR, Henry, CASCIO, Anthony, PARENTI, Jenna, EL-TAHRY, Teymour, FORTIN, JR, ROGOSIN, Nicholas, BUNIN, Andrew, VETTER, Eric, CELLA, Charles
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator LOCKE, Andrew
STEIN, David
MCGUCKIN, Jeffrey
DOBROWITSKY, Joshua
DUFFY, JR
HOGAN, Matthew
CARDNO, Andrew
MOHR, Henry
CASCIO, Anthony
PARENTI, Jenna
EL-TAHRY, Teymour
FORTIN, JR
ROGOSIN, Nicholas
BUNIN, Andrew
VETTER, Eric
CELLA, Charles
description In example embodiments, a method of detecting an anomaly associated with a machine includes recording a data set associated with the machine; determining, by a first machine learning model, a label associated with the data set; determining whether the label is to be reviewed; and responsive to determining that the label is to be reviewed, subjecting the data set and the label to a review, and updating the label based on the review. Alternatively or additionally, in example embodiments, a method of presenting an analysis of a machine included in an industrial facility includes generating a digital twin of the machine; determining at least one property of the digital twin based on a simulation of an operation of the machine; and generating a presentation of the industrial facility that includes a visualization of the digital twin and a visual indicator of the at least one property of the digital twin. Dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, la présente invention concerne un procédé de détection d'une anomalie associée à une machine consistant entre autres à enregistrer un ensemble de données associé à la machine, à déterminer, à l'aide d'un premier modèle d'apprentissage automatique, une étiquette associée à l'ensemble de données, à déterminer si l'étiquette doit être examinée et, après avoir déterminé que l'étiquette doit être examinée, à soumettre l'ensemble de données et l'étiquette à un examen et à mettre à jour l'étiquette en fonction de l'examen. Alternativement ou additionnellement, dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, un procédé de présentation d'une analyse d'une machine incluse dans une installation industrielle comprend les étapes suivantes : génération d'un jumeau numérique de la machine ; identification d'au moins une propriété du jumeau numérique à partir d'une simulation du fonctionnement de la machine ; et génération d'une présentation de l'installation industrielle comprenant une visualisation du jumeau numérique et un indicateur visuel de la ou des propriétés du jumeau numérique.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2024155584A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2024155584A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2024155584A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZPAKjgwOcfUN1lHwdQ3x8HcBMlxcwzydXYEMRz8XhQAfxxA3_yDfYAUgqeDp5xIaHBLk6egDZIa4Bvm5hij4uymEeHj6uQfzMLCmJeYUp_JCaW4GZTfXEGcP3dSC_PjU4oLE5NS81JL4cH8jAyMTQ1NTUwsTR0Nj4lQBABMaLlg</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>SYSTEMS, METHODS, DEVICES, AND PLATFORMS FOR INDUSTRIAL INTERNET OF THINGS</title><source>esp@cenet</source><creator>LOCKE, Andrew ; STEIN, David ; MCGUCKIN, Jeffrey ; DOBROWITSKY, Joshua ; DUFFY, JR ; HOGAN, Matthew ; CARDNO, Andrew ; MOHR, Henry ; CASCIO, Anthony ; PARENTI, Jenna ; EL-TAHRY, Teymour ; FORTIN, JR ; ROGOSIN, Nicholas ; BUNIN, Andrew ; VETTER, Eric ; CELLA, Charles</creator><creatorcontrib>LOCKE, Andrew ; STEIN, David ; MCGUCKIN, Jeffrey ; DOBROWITSKY, Joshua ; DUFFY, JR ; HOGAN, Matthew ; CARDNO, Andrew ; MOHR, Henry ; CASCIO, Anthony ; PARENTI, Jenna ; EL-TAHRY, Teymour ; FORTIN, JR ; ROGOSIN, Nicholas ; BUNIN, Andrew ; VETTER, Eric ; CELLA, Charles</creatorcontrib><description>In example embodiments, a method of detecting an anomaly associated with a machine includes recording a data set associated with the machine; determining, by a first machine learning model, a label associated with the data set; determining whether the label is to be reviewed; and responsive to determining that the label is to be reviewed, subjecting the data set and the label to a review, and updating the label based on the review. Alternatively or additionally, in example embodiments, a method of presenting an analysis of a machine included in an industrial facility includes generating a digital twin of the machine; determining at least one property of the digital twin based on a simulation of an operation of the machine; and generating a presentation of the industrial facility that includes a visualization of the digital twin and a visual indicator of the at least one property of the digital twin. Dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, la présente invention concerne un procédé de détection d'une anomalie associée à une machine consistant entre autres à enregistrer un ensemble de données associé à la machine, à déterminer, à l'aide d'un premier modèle d'apprentissage automatique, une étiquette associée à l'ensemble de données, à déterminer si l'étiquette doit être examinée et, après avoir déterminé que l'étiquette doit être examinée, à soumettre l'ensemble de données et l'étiquette à un examen et à mettre à jour l'étiquette en fonction de l'examen. Alternativement ou additionnellement, dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, un procédé de présentation d'une analyse d'une machine incluse dans une installation industrielle comprend les étapes suivantes : génération d'un jumeau numérique de la machine ; identification d'au moins une propriété du jumeau numérique à partir d'une simulation du fonctionnement de la machine ; et génération d'une présentation de l'installation industrielle comprenant une visualisation du jumeau numérique et un indicateur visuel de la ou des propriétés du jumeau numérique.</description><language>eng ; fre</language><subject>CALCULATING ; COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS ; COMPUTING ; CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL ; CONTROLLING ; COUNTING ; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS ; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS ; PHYSICS ; REGULATING</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20240725&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2024155584A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25544,76293</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20240725&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2024155584A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>LOCKE, Andrew</creatorcontrib><creatorcontrib>STEIN, David</creatorcontrib><creatorcontrib>MCGUCKIN, Jeffrey</creatorcontrib><creatorcontrib>DOBROWITSKY, Joshua</creatorcontrib><creatorcontrib>DUFFY, JR</creatorcontrib><creatorcontrib>HOGAN, Matthew</creatorcontrib><creatorcontrib>CARDNO, Andrew</creatorcontrib><creatorcontrib>MOHR, Henry</creatorcontrib><creatorcontrib>CASCIO, Anthony</creatorcontrib><creatorcontrib>PARENTI, Jenna</creatorcontrib><creatorcontrib>EL-TAHRY, Teymour</creatorcontrib><creatorcontrib>FORTIN, JR</creatorcontrib><creatorcontrib>ROGOSIN, Nicholas</creatorcontrib><creatorcontrib>BUNIN, Andrew</creatorcontrib><creatorcontrib>VETTER, Eric</creatorcontrib><creatorcontrib>CELLA, Charles</creatorcontrib><title>SYSTEMS, METHODS, DEVICES, AND PLATFORMS FOR INDUSTRIAL INTERNET OF THINGS</title><description>In example embodiments, a method of detecting an anomaly associated with a machine includes recording a data set associated with the machine; determining, by a first machine learning model, a label associated with the data set; determining whether the label is to be reviewed; and responsive to determining that the label is to be reviewed, subjecting the data set and the label to a review, and updating the label based on the review. Alternatively or additionally, in example embodiments, a method of presenting an analysis of a machine included in an industrial facility includes generating a digital twin of the machine; determining at least one property of the digital twin based on a simulation of an operation of the machine; and generating a presentation of the industrial facility that includes a visualization of the digital twin and a visual indicator of the at least one property of the digital twin. Dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, la présente invention concerne un procédé de détection d'une anomalie associée à une machine consistant entre autres à enregistrer un ensemble de données associé à la machine, à déterminer, à l'aide d'un premier modèle d'apprentissage automatique, une étiquette associée à l'ensemble de données, à déterminer si l'étiquette doit être examinée et, après avoir déterminé que l'étiquette doit être examinée, à soumettre l'ensemble de données et l'étiquette à un examen et à mettre à jour l'étiquette en fonction de l'examen. Alternativement ou additionnellement, dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, un procédé de présentation d'une analyse d'une machine incluse dans une installation industrielle comprend les étapes suivantes : génération d'un jumeau numérique de la machine ; identification d'au moins une propriété du jumeau numérique à partir d'une simulation du fonctionnement de la machine ; et génération d'une présentation de l'installation industrielle comprenant une visualisation du jumeau numérique et un indicateur visuel de la ou des propriétés du jumeau numérique.</description><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</subject><subject>CONTROLLING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</subject><subject>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>REGULATING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZPAKjgwOcfUN1lHwdQ3x8HcBMlxcwzydXYEMRz8XhQAfxxA3_yDfYAUgqeDp5xIaHBLk6egDZIa4Bvm5hij4uymEeHj6uQfzMLCmJeYUp_JCaW4GZTfXEGcP3dSC_PjU4oLE5NS81JL4cH8jAyMTQ1NTUwsTR0Nj4lQBABMaLlg</recordid><startdate>20240725</startdate><enddate>20240725</enddate><creator>LOCKE, Andrew</creator><creator>STEIN, David</creator><creator>MCGUCKIN, Jeffrey</creator><creator>DOBROWITSKY, Joshua</creator><creator>DUFFY, JR</creator><creator>HOGAN, Matthew</creator><creator>CARDNO, Andrew</creator><creator>MOHR, Henry</creator><creator>CASCIO, Anthony</creator><creator>PARENTI, Jenna</creator><creator>EL-TAHRY, Teymour</creator><creator>FORTIN, JR</creator><creator>ROGOSIN, Nicholas</creator><creator>BUNIN, Andrew</creator><creator>VETTER, Eric</creator><creator>CELLA, Charles</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20240725</creationdate><title>SYSTEMS, METHODS, DEVICES, AND PLATFORMS FOR INDUSTRIAL INTERNET OF THINGS</title><author>LOCKE, Andrew ; STEIN, David ; MCGUCKIN, Jeffrey ; DOBROWITSKY, Joshua ; DUFFY, JR ; HOGAN, Matthew ; CARDNO, Andrew ; MOHR, Henry ; CASCIO, Anthony ; PARENTI, Jenna ; EL-TAHRY, Teymour ; FORTIN, JR ; ROGOSIN, Nicholas ; BUNIN, Andrew ; VETTER, Eric ; CELLA, Charles</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2024155584A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2024</creationdate><topic>CALCULATING</topic><topic>COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS</topic><topic>COMPUTING</topic><topic>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</topic><topic>CONTROLLING</topic><topic>COUNTING</topic><topic>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</topic><topic>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>REGULATING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>LOCKE, Andrew</creatorcontrib><creatorcontrib>STEIN, David</creatorcontrib><creatorcontrib>MCGUCKIN, Jeffrey</creatorcontrib><creatorcontrib>DOBROWITSKY, Joshua</creatorcontrib><creatorcontrib>DUFFY, JR</creatorcontrib><creatorcontrib>HOGAN, Matthew</creatorcontrib><creatorcontrib>CARDNO, Andrew</creatorcontrib><creatorcontrib>MOHR, Henry</creatorcontrib><creatorcontrib>CASCIO, Anthony</creatorcontrib><creatorcontrib>PARENTI, Jenna</creatorcontrib><creatorcontrib>EL-TAHRY, Teymour</creatorcontrib><creatorcontrib>FORTIN, JR</creatorcontrib><creatorcontrib>ROGOSIN, Nicholas</creatorcontrib><creatorcontrib>BUNIN, Andrew</creatorcontrib><creatorcontrib>VETTER, Eric</creatorcontrib><creatorcontrib>CELLA, Charles</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>LOCKE, Andrew</au><au>STEIN, David</au><au>MCGUCKIN, Jeffrey</au><au>DOBROWITSKY, Joshua</au><au>DUFFY, JR</au><au>HOGAN, Matthew</au><au>CARDNO, Andrew</au><au>MOHR, Henry</au><au>CASCIO, Anthony</au><au>PARENTI, Jenna</au><au>EL-TAHRY, Teymour</au><au>FORTIN, JR</au><au>ROGOSIN, Nicholas</au><au>BUNIN, Andrew</au><au>VETTER, Eric</au><au>CELLA, Charles</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SYSTEMS, METHODS, DEVICES, AND PLATFORMS FOR INDUSTRIAL INTERNET OF THINGS</title><date>2024-07-25</date><risdate>2024</risdate><abstract>In example embodiments, a method of detecting an anomaly associated with a machine includes recording a data set associated with the machine; determining, by a first machine learning model, a label associated with the data set; determining whether the label is to be reviewed; and responsive to determining that the label is to be reviewed, subjecting the data set and the label to a review, and updating the label based on the review. Alternatively or additionally, in example embodiments, a method of presenting an analysis of a machine included in an industrial facility includes generating a digital twin of the machine; determining at least one property of the digital twin based on a simulation of an operation of the machine; and generating a presentation of the industrial facility that includes a visualization of the digital twin and a visual indicator of the at least one property of the digital twin. Dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, la présente invention concerne un procédé de détection d'une anomalie associée à une machine consistant entre autres à enregistrer un ensemble de données associé à la machine, à déterminer, à l'aide d'un premier modèle d'apprentissage automatique, une étiquette associée à l'ensemble de données, à déterminer si l'étiquette doit être examinée et, après avoir déterminé que l'étiquette doit être examinée, à soumettre l'ensemble de données et l'étiquette à un examen et à mettre à jour l'étiquette en fonction de l'examen. Alternativement ou additionnellement, dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, un procédé de présentation d'une analyse d'une machine incluse dans une installation industrielle comprend les étapes suivantes : génération d'un jumeau numérique de la machine ; identification d'au moins une propriété du jumeau numérique à partir d'une simulation du fonctionnement de la machine ; et génération d'une présentation de l'installation industrielle comprenant une visualisation du jumeau numérique et un indicateur visuel de la ou des propriétés du jumeau numérique.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; fre
recordid cdi_epo_espacenet_WO2024155584A1
source esp@cenet
subjects CALCULATING
COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
COMPUTING
CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL
CONTROLLING
COUNTING
FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS
MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS
PHYSICS
REGULATING
title SYSTEMS, METHODS, DEVICES, AND PLATFORMS FOR INDUSTRIAL INTERNET OF THINGS
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-27T20%3A16%3A28IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=LOCKE,%20Andrew&rft.date=2024-07-25&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2024155584A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true