SYSTEMS, METHODS, DEVICES, AND PLATFORMS FOR INDUSTRIAL INTERNET OF THINGS
In example embodiments, a method of detecting an anomaly associated with a machine includes recording a data set associated with the machine; determining, by a first machine learning model, a label associated with the data set; determining whether the label is to be reviewed; and responsive to deter...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , , , , , , , , , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
container_end_page | |
---|---|
container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | LOCKE, Andrew STEIN, David MCGUCKIN, Jeffrey DOBROWITSKY, Joshua DUFFY, JR HOGAN, Matthew CARDNO, Andrew MOHR, Henry CASCIO, Anthony PARENTI, Jenna EL-TAHRY, Teymour FORTIN, JR ROGOSIN, Nicholas BUNIN, Andrew VETTER, Eric CELLA, Charles |
description | In example embodiments, a method of detecting an anomaly associated with a machine includes recording a data set associated with the machine; determining, by a first machine learning model, a label associated with the data set; determining whether the label is to be reviewed; and responsive to determining that the label is to be reviewed, subjecting the data set and the label to a review, and updating the label based on the review. Alternatively or additionally, in example embodiments, a method of presenting an analysis of a machine included in an industrial facility includes generating a digital twin of the machine; determining at least one property of the digital twin based on a simulation of an operation of the machine; and generating a presentation of the industrial facility that includes a visualization of the digital twin and a visual indicator of the at least one property of the digital twin.
Dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, la présente invention concerne un procédé de détection d'une anomalie associée à une machine consistant entre autres à enregistrer un ensemble de données associé à la machine, à déterminer, à l'aide d'un premier modèle d'apprentissage automatique, une étiquette associée à l'ensemble de données, à déterminer si l'étiquette doit être examinée et, après avoir déterminé que l'étiquette doit être examinée, à soumettre l'ensemble de données et l'étiquette à un examen et à mettre à jour l'étiquette en fonction de l'examen. Alternativement ou additionnellement, dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, un procédé de présentation d'une analyse d'une machine incluse dans une installation industrielle comprend les étapes suivantes : génération d'un jumeau numérique de la machine ; identification d'au moins une propriété du jumeau numérique à partir d'une simulation du fonctionnement de la machine ; et génération d'une présentation de l'installation industrielle comprenant une visualisation du jumeau numérique et un indicateur visuel de la ou des propriétés du jumeau numérique. |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2024155584A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2024155584A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2024155584A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZPAKjgwOcfUN1lHwdQ3x8HcBMlxcwzydXYEMRz8XhQAfxxA3_yDfYAUgqeDp5xIaHBLk6egDZIa4Bvm5hij4uymEeHj6uQfzMLCmJeYUp_JCaW4GZTfXEGcP3dSC_PjU4oLE5NS81JL4cH8jAyMTQ1NTUwsTR0Nj4lQBABMaLlg</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>SYSTEMS, METHODS, DEVICES, AND PLATFORMS FOR INDUSTRIAL INTERNET OF THINGS</title><source>esp@cenet</source><creator>LOCKE, Andrew ; STEIN, David ; MCGUCKIN, Jeffrey ; DOBROWITSKY, Joshua ; DUFFY, JR ; HOGAN, Matthew ; CARDNO, Andrew ; MOHR, Henry ; CASCIO, Anthony ; PARENTI, Jenna ; EL-TAHRY, Teymour ; FORTIN, JR ; ROGOSIN, Nicholas ; BUNIN, Andrew ; VETTER, Eric ; CELLA, Charles</creator><creatorcontrib>LOCKE, Andrew ; STEIN, David ; MCGUCKIN, Jeffrey ; DOBROWITSKY, Joshua ; DUFFY, JR ; HOGAN, Matthew ; CARDNO, Andrew ; MOHR, Henry ; CASCIO, Anthony ; PARENTI, Jenna ; EL-TAHRY, Teymour ; FORTIN, JR ; ROGOSIN, Nicholas ; BUNIN, Andrew ; VETTER, Eric ; CELLA, Charles</creatorcontrib><description>In example embodiments, a method of detecting an anomaly associated with a machine includes recording a data set associated with the machine; determining, by a first machine learning model, a label associated with the data set; determining whether the label is to be reviewed; and responsive to determining that the label is to be reviewed, subjecting the data set and the label to a review, and updating the label based on the review. Alternatively or additionally, in example embodiments, a method of presenting an analysis of a machine included in an industrial facility includes generating a digital twin of the machine; determining at least one property of the digital twin based on a simulation of an operation of the machine; and generating a presentation of the industrial facility that includes a visualization of the digital twin and a visual indicator of the at least one property of the digital twin.
Dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, la présente invention concerne un procédé de détection d'une anomalie associée à une machine consistant entre autres à enregistrer un ensemble de données associé à la machine, à déterminer, à l'aide d'un premier modèle d'apprentissage automatique, une étiquette associée à l'ensemble de données, à déterminer si l'étiquette doit être examinée et, après avoir déterminé que l'étiquette doit être examinée, à soumettre l'ensemble de données et l'étiquette à un examen et à mettre à jour l'étiquette en fonction de l'examen. Alternativement ou additionnellement, dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, un procédé de présentation d'une analyse d'une machine incluse dans une installation industrielle comprend les étapes suivantes : génération d'un jumeau numérique de la machine ; identification d'au moins une propriété du jumeau numérique à partir d'une simulation du fonctionnement de la machine ; et génération d'une présentation de l'installation industrielle comprenant une visualisation du jumeau numérique et un indicateur visuel de la ou des propriétés du jumeau numérique.</description><language>eng ; fre</language><subject>CALCULATING ; COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS ; COMPUTING ; CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL ; CONTROLLING ; COUNTING ; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS ; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS ; PHYSICS ; REGULATING</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240725&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2024155584A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25544,76293</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240725&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2024155584A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>LOCKE, Andrew</creatorcontrib><creatorcontrib>STEIN, David</creatorcontrib><creatorcontrib>MCGUCKIN, Jeffrey</creatorcontrib><creatorcontrib>DOBROWITSKY, Joshua</creatorcontrib><creatorcontrib>DUFFY, JR</creatorcontrib><creatorcontrib>HOGAN, Matthew</creatorcontrib><creatorcontrib>CARDNO, Andrew</creatorcontrib><creatorcontrib>MOHR, Henry</creatorcontrib><creatorcontrib>CASCIO, Anthony</creatorcontrib><creatorcontrib>PARENTI, Jenna</creatorcontrib><creatorcontrib>EL-TAHRY, Teymour</creatorcontrib><creatorcontrib>FORTIN, JR</creatorcontrib><creatorcontrib>ROGOSIN, Nicholas</creatorcontrib><creatorcontrib>BUNIN, Andrew</creatorcontrib><creatorcontrib>VETTER, Eric</creatorcontrib><creatorcontrib>CELLA, Charles</creatorcontrib><title>SYSTEMS, METHODS, DEVICES, AND PLATFORMS FOR INDUSTRIAL INTERNET OF THINGS</title><description>In example embodiments, a method of detecting an anomaly associated with a machine includes recording a data set associated with the machine; determining, by a first machine learning model, a label associated with the data set; determining whether the label is to be reviewed; and responsive to determining that the label is to be reviewed, subjecting the data set and the label to a review, and updating the label based on the review. Alternatively or additionally, in example embodiments, a method of presenting an analysis of a machine included in an industrial facility includes generating a digital twin of the machine; determining at least one property of the digital twin based on a simulation of an operation of the machine; and generating a presentation of the industrial facility that includes a visualization of the digital twin and a visual indicator of the at least one property of the digital twin.
Dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, la présente invention concerne un procédé de détection d'une anomalie associée à une machine consistant entre autres à enregistrer un ensemble de données associé à la machine, à déterminer, à l'aide d'un premier modèle d'apprentissage automatique, une étiquette associée à l'ensemble de données, à déterminer si l'étiquette doit être examinée et, après avoir déterminé que l'étiquette doit être examinée, à soumettre l'ensemble de données et l'étiquette à un examen et à mettre à jour l'étiquette en fonction de l'examen. Alternativement ou additionnellement, dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, un procédé de présentation d'une analyse d'une machine incluse dans une installation industrielle comprend les étapes suivantes : génération d'un jumeau numérique de la machine ; identification d'au moins une propriété du jumeau numérique à partir d'une simulation du fonctionnement de la machine ; et génération d'une présentation de l'installation industrielle comprenant une visualisation du jumeau numérique et un indicateur visuel de la ou des propriétés du jumeau numérique.</description><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</subject><subject>CONTROLLING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</subject><subject>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>REGULATING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZPAKjgwOcfUN1lHwdQ3x8HcBMlxcwzydXYEMRz8XhQAfxxA3_yDfYAUgqeDp5xIaHBLk6egDZIa4Bvm5hij4uymEeHj6uQfzMLCmJeYUp_JCaW4GZTfXEGcP3dSC_PjU4oLE5NS81JL4cH8jAyMTQ1NTUwsTR0Nj4lQBABMaLlg</recordid><startdate>20240725</startdate><enddate>20240725</enddate><creator>LOCKE, Andrew</creator><creator>STEIN, David</creator><creator>MCGUCKIN, Jeffrey</creator><creator>DOBROWITSKY, Joshua</creator><creator>DUFFY, JR</creator><creator>HOGAN, Matthew</creator><creator>CARDNO, Andrew</creator><creator>MOHR, Henry</creator><creator>CASCIO, Anthony</creator><creator>PARENTI, Jenna</creator><creator>EL-TAHRY, Teymour</creator><creator>FORTIN, JR</creator><creator>ROGOSIN, Nicholas</creator><creator>BUNIN, Andrew</creator><creator>VETTER, Eric</creator><creator>CELLA, Charles</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20240725</creationdate><title>SYSTEMS, METHODS, DEVICES, AND PLATFORMS FOR INDUSTRIAL INTERNET OF THINGS</title><author>LOCKE, Andrew ; STEIN, David ; MCGUCKIN, Jeffrey ; DOBROWITSKY, Joshua ; DUFFY, JR ; HOGAN, Matthew ; CARDNO, Andrew ; MOHR, Henry ; CASCIO, Anthony ; PARENTI, Jenna ; EL-TAHRY, Teymour ; FORTIN, JR ; ROGOSIN, Nicholas ; BUNIN, Andrew ; VETTER, Eric ; CELLA, Charles</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2024155584A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2024</creationdate><topic>CALCULATING</topic><topic>COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS</topic><topic>COMPUTING</topic><topic>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</topic><topic>CONTROLLING</topic><topic>COUNTING</topic><topic>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</topic><topic>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>REGULATING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>LOCKE, Andrew</creatorcontrib><creatorcontrib>STEIN, David</creatorcontrib><creatorcontrib>MCGUCKIN, Jeffrey</creatorcontrib><creatorcontrib>DOBROWITSKY, Joshua</creatorcontrib><creatorcontrib>DUFFY, JR</creatorcontrib><creatorcontrib>HOGAN, Matthew</creatorcontrib><creatorcontrib>CARDNO, Andrew</creatorcontrib><creatorcontrib>MOHR, Henry</creatorcontrib><creatorcontrib>CASCIO, Anthony</creatorcontrib><creatorcontrib>PARENTI, Jenna</creatorcontrib><creatorcontrib>EL-TAHRY, Teymour</creatorcontrib><creatorcontrib>FORTIN, JR</creatorcontrib><creatorcontrib>ROGOSIN, Nicholas</creatorcontrib><creatorcontrib>BUNIN, Andrew</creatorcontrib><creatorcontrib>VETTER, Eric</creatorcontrib><creatorcontrib>CELLA, Charles</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>LOCKE, Andrew</au><au>STEIN, David</au><au>MCGUCKIN, Jeffrey</au><au>DOBROWITSKY, Joshua</au><au>DUFFY, JR</au><au>HOGAN, Matthew</au><au>CARDNO, Andrew</au><au>MOHR, Henry</au><au>CASCIO, Anthony</au><au>PARENTI, Jenna</au><au>EL-TAHRY, Teymour</au><au>FORTIN, JR</au><au>ROGOSIN, Nicholas</au><au>BUNIN, Andrew</au><au>VETTER, Eric</au><au>CELLA, Charles</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SYSTEMS, METHODS, DEVICES, AND PLATFORMS FOR INDUSTRIAL INTERNET OF THINGS</title><date>2024-07-25</date><risdate>2024</risdate><abstract>In example embodiments, a method of detecting an anomaly associated with a machine includes recording a data set associated with the machine; determining, by a first machine learning model, a label associated with the data set; determining whether the label is to be reviewed; and responsive to determining that the label is to be reviewed, subjecting the data set and the label to a review, and updating the label based on the review. Alternatively or additionally, in example embodiments, a method of presenting an analysis of a machine included in an industrial facility includes generating a digital twin of the machine; determining at least one property of the digital twin based on a simulation of an operation of the machine; and generating a presentation of the industrial facility that includes a visualization of the digital twin and a visual indicator of the at least one property of the digital twin.
Dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, la présente invention concerne un procédé de détection d'une anomalie associée à une machine consistant entre autres à enregistrer un ensemble de données associé à la machine, à déterminer, à l'aide d'un premier modèle d'apprentissage automatique, une étiquette associée à l'ensemble de données, à déterminer si l'étiquette doit être examinée et, après avoir déterminé que l'étiquette doit être examinée, à soumettre l'ensemble de données et l'étiquette à un examen et à mettre à jour l'étiquette en fonction de l'examen. Alternativement ou additionnellement, dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, un procédé de présentation d'une analyse d'une machine incluse dans une installation industrielle comprend les étapes suivantes : génération d'un jumeau numérique de la machine ; identification d'au moins une propriété du jumeau numérique à partir d'une simulation du fonctionnement de la machine ; et génération d'une présentation de l'installation industrielle comprenant une visualisation du jumeau numérique et un indicateur visuel de la ou des propriétés du jumeau numérique.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | eng ; fre |
recordid | cdi_epo_espacenet_WO2024155584A1 |
source | esp@cenet |
subjects | CALCULATING COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS COMPUTING CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL CONTROLLING COUNTING FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS PHYSICS REGULATING |
title | SYSTEMS, METHODS, DEVICES, AND PLATFORMS FOR INDUSTRIAL INTERNET OF THINGS |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-27T20%3A16%3A28IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=LOCKE,%20Andrew&rft.date=2024-07-25&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2024155584A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |