SYSTEMS, METHODS, DEVICES, AND PLATFORMS FOR INDUSTRIAL INTERNET OF THINGS

In example embodiments, a method of detecting an anomaly associated with a machine includes recording a data set associated with the machine; determining, by a first machine learning model, a label associated with the data set; determining whether the label is to be reviewed; and responsive to deter...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: LOCKE, Andrew, STEIN, David, MCGUCKIN, Jeffrey, DOBROWITSKY, Joshua, DUFFY, JR, HOGAN, Matthew, CARDNO, Andrew, MOHR, Henry, CASCIO, Anthony, PARENTI, Jenna, EL-TAHRY, Teymour, FORTIN, JR, ROGOSIN, Nicholas, BUNIN, Andrew, VETTER, Eric, CELLA, Charles
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:In example embodiments, a method of detecting an anomaly associated with a machine includes recording a data set associated with the machine; determining, by a first machine learning model, a label associated with the data set; determining whether the label is to be reviewed; and responsive to determining that the label is to be reviewed, subjecting the data set and the label to a review, and updating the label based on the review. Alternatively or additionally, in example embodiments, a method of presenting an analysis of a machine included in an industrial facility includes generating a digital twin of the machine; determining at least one property of the digital twin based on a simulation of an operation of the machine; and generating a presentation of the industrial facility that includes a visualization of the digital twin and a visual indicator of the at least one property of the digital twin. Dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, la présente invention concerne un procédé de détection d'une anomalie associée à une machine consistant entre autres à enregistrer un ensemble de données associé à la machine, à déterminer, à l'aide d'un premier modèle d'apprentissage automatique, une étiquette associée à l'ensemble de données, à déterminer si l'étiquette doit être examinée et, après avoir déterminé que l'étiquette doit être examinée, à soumettre l'ensemble de données et l'étiquette à un examen et à mettre à jour l'étiquette en fonction de l'examen. Alternativement ou additionnellement, dans des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, un procédé de présentation d'une analyse d'une machine incluse dans une installation industrielle comprend les étapes suivantes : génération d'un jumeau numérique de la machine ; identification d'au moins une propriété du jumeau numérique à partir d'une simulation du fonctionnement de la machine ; et génération d'une présentation de l'installation industrielle comprenant une visualisation du jumeau numérique et un indicateur visuel de la ou des propriétés du jumeau numérique.