METHOD AND APPARATUS FOR TESTING AN OPTICAL ELEMENT

The invention relates to a method comprising detecting a location of a sample (20); performing at least one of a reflection measurement and a transmission measurement, wherein the reflection measurement comprises: locating a projecting device and a detecting device (40) on a same side of the sample (20); detecting electromagnetic radiation reflected by the sample (20); and the transmission measurement comprises: locating the projecting device and the detecting device (40) on opposite sides of the sample (20); and detecting electromagnetic radiation transferred by the sample (20); and wherein the method further comprises using the detected electromagnetic radiation to form a test result. The invention also relates to an apparatus (1) for implementing the method. L'invention concerne un procédé consistant à détecter un emplacement d'un échantillon (20) ; réaliser au moins l'une parmi une mesure de réflexion et/ou une mesure de transmission, la mesure de réflexion consistant à : placer un dispositif de projection et un dispositif de détection (40) sur un même côté de l'échantillon (20) ; détecter un rayonnement électromagnétique réfléchi par l'échantillon (20) ; et la mesure de transmission consiste à : placer le dispositif de projection et le dispositif de détection (40) sur des côtés opposés de l'échantillon (20) ; et détecter un rayonnement électromagnétique transféré par l'échantillon (20) ; et le procédé consistant en outre à utiliser le rayonnement électromagnétique détecté pour former un résultat de test. L'invention concerne également un appareil (1) pour la mise en œuvre du procédé.