TECHNIQUE FOR CALIBRATION OF AN IRRADIATION SYSTEM OF AN APPARATUS FOR ADDITIVE MANUFACTURING
A method for calibration of an irradiation system of an apparatus for additive manufacturing is provided. The method comprises applying a powder layer onto a work area of the apparatus, measuring a topography of at least a section of the powder layer, based on the measured topography, determining at...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A method for calibration of an irradiation system of an apparatus for additive manufacturing is provided. The method comprises applying a powder layer onto a work area of the apparatus, measuring a topography of at least a section of the powder layer, based on the measured topography, determining at least one lateral correction value for an irradiation beam of the irradiation system, and applying the lateral cor- rection value to scanning data used by the irradiation system for scanning the irradiation beam over the work area. Further, an apparatus for additive manufacturing is provided.
L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'un système d'irradiation d'un appareil de fabrication additive. Le procédé comprend l'application d'une couche de poudre sur une zone de travail de l'appareil, la mesure d'une topographie d'au moins une section de la couche de poudre, sur la base de la topographie mesurée, la détermination d'au moins une valeur de correction latérale pour un faisceau d'irradiation du système d'irradiation et l'application de la valeur de correction latérale à des données de balayage utilisées par le système d'irradiation pour balayer le faisceau d'irradiation sur la zone de travail. L'invention concerne en outre un appareil de fabrication additive. |
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