OPTICAL SENSOR FOR SELECTIVE DETECTION OF HEAVY METAL IONS
An optical sensor (100) for detecting at least one metal ion in a sample comprises a resonant structure (102) having a pair of arms (104a, 104b) coated with a chelating agent to bond with a metal ion in the sample. The pair of arms (104a, 104b) is provided with optical waveguides (106) of unequal wi...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | An optical sensor (100) for detecting at least one metal ion in a sample comprises a resonant structure (102) having a pair of arms (104a, 104b) coated with a chelating agent to bond with a metal ion in the sample. The pair of arms (104a, 104b) is provided with optical waveguides (106) of unequal widths forming different optical path lengths in the arms (104a, 104b) and creates optical interference patterns having shifts in wavelengths. The shifts in the wavelengths of the patterns are proportional to the concentration of the metal ion within the sample and can be utilized for quantitative and in-situ detection of the metal ion.
L'invention concerne un capteur optique (100) destiné à détecter au moins un ion métallique dans un échantillon, comprenant une structure résonante (102) ayant une paire de bras (104a, 104b) revêtus d'un agent chélatant pour se lier à un ion métallique dans l'échantillon. La paire de bras (104a, 104b) est pourvue de guides d'ondes optiques (106) de largeurs inégales formant différentes longueurs de trajet optique dans les bras (104a, 104b) et crée des motifs d'interférence optique ayant des décalages dans des longueurs d'onde. Les décalages dans les longueurs d'onde des motifs sont proportionnels à la concentration de l'ion métallique à l'intérieur de l'échantillon et peuvent être utilisés pour la détection quantitative et in situ de l'ion métallique. |
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