CATHODE AND LITHIUM SECONDARY BATTERY MANUFACTURED USING SAME

A cathode according to one embodiment of the present invention comprises a cathode active material layer arranged on at least one side of a cathode current collector, wherein the cathode active material layer includes lithium transition metal phosphate and fluorine-based binder, and, during a flexib...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: CHOI, Jung Hun, KIM, Ki Woong, HAN, Geum Jae, LEE, Da Young, KIM, Kwang Jin, PARK, Jeong Hwa, KWON, O Jong, SUNG, Jin Su, AN, In Gu
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:A cathode according to one embodiment of the present invention comprises a cathode active material layer arranged on at least one side of a cathode current collector, wherein the cathode active material layer includes lithium transition metal phosphate and fluorine-based binder, and, during a flexibility test in which the cathode is lifted after pi (Φ)-specific measuring rods makes contact on the cathode active material layer, the ratio of porosity p of the cathode active material layer calculated in formula 1, with respect to a maximum pi value D of the measuring rod in which cracks occur, can be 10 or greater. [Formula 1] porosity (P) = {1 - (measured density of cathode active material layer/true density of cathode active material)}×100 Une cathode selon un mode de réalisation de la présente invention comprend une couche de matériau actif de cathode disposée sur au moins un côté d'un collecteur de courant de cathode. La couche de matériau actif de cathode comprend un phosphate de métal de transition de lithium et un liant à base de fluor, et, lors d'un essai de flexibilité au cours duquel la cathode est soulevée après que des tiges de mesure spécifiques pi (Φ) sont entrées en contact avec la couche de matériau actif de cathode, le rapport de porosité p de la couche de matériau actif de cathode calculé dans la formule 1, par rapport à une valeur pi maximale D de la tige de mesure dans laquelle des fissures se produisent, peut être supérieur ou égal à 10. [Formule 1] porosité (P) = {1 - (densité mesurée de couche de matériau actif de cathode/densité réelle de matériau actif de cathode)}×100. 본 발명의 일 실시예에 따른 양극은, 양극 집전체의 적어도 일면에 배치되는 양극 활물질층을 포함하는 양극으로서, 상기 양극 활물질층은, 리튬 전이금속 인산화물 및 불소계 바인더를 포함하고, 상기 양극 활물질층 상에 파이(Φ)별 측정봉들을 접촉시킨 후, 양극을 들어올리는 유연성 평가 시 크랙이 발생하는 측정봉의 최대 파이 값 D에 대한, 하기 식 1에 의해 계산되는 상기 양극 활물질층의 기공도 P의 비 값(= P/D)이 10 이상일 수 있다. [식 1] 기공도(P) = {1 - (양극 활물질층의 측정밀도/양극 활물질의 진밀도)}×100