DETERIORATION TESTING DEVICE AND DETERIORATION TESTING METHOD

The present invention comprises: a light source (16) that irradiates a polymer-material specimen (21) with light; a bending mechanism (19) that switches between extending and bending the specimen (21); an imaging unit (22) that captures an image of the specimen (21); and an assessment unit (32) that...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: MIWA Takashi, FUJIMOTO Norihiro, SUGIYAMA Akira, TORIMOTO Manami, NEGISHI Kaori
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:The present invention comprises: a light source (16) that irradiates a polymer-material specimen (21) with light; a bending mechanism (19) that switches between extending and bending the specimen (21); an imaging unit (22) that captures an image of the specimen (21); and an assessment unit (32) that, on the basis of the image captured by the imaging unit (22), assesses whether the specimen (21) has deteriorated. La présente invention comprend : une source de lumière (16) qui émet un échantillon de matériau polymère (21) avec de la lumière ; un mécanisme de flexion (19) qui commute entre l'extension et la flexion de l'échantillon (21) ; une unité d'imagerie (22) qui capture une image de l'échantillon (21) ; et une unité d'évaluation (32) qui, sur la base de l'image capturée par l'unité d'imagerie (22), évalue si l'échantillon (21) s'est détérioré. 高分子材料の試験体(21)に光を照射する光源(16)と、試験体(21)の伸長、屈曲を切り替える屈曲機構(19)と、試験体(21)を撮像する撮像部(22)と、撮像部(22)で撮像された画像に基づいて、試験体(21)の劣化を判定する判定部(32)と、を備える。