OPTICAL MEASUREMENT DEVICE, ACQUISITION METHOD, ACQUISITION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
This optical measurement device comprises: a wavelength-swept light source (1) which outputs swept light, the wavelength of which continuously changes with time; an irradiation optical system (3) which emits output light for measurement, which is based on the swept light from the wavelength-swept li...
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|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre ; jpn |
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| container_end_page | |
|---|---|
| container_issue | |
| container_start_page | |
| container_title | |
| container_volume | |
| creator | SONO, Naoki YAMAUCHI, Takanori GOTO, Hiroki IMAKI, Masaharu KOTAKE, Nobuki |
| description | This optical measurement device comprises: a wavelength-swept light source (1) which outputs swept light, the wavelength of which continuously changes with time; an irradiation optical system (3) which emits output light for measurement, which is based on the swept light from the wavelength-swept light source (1), as measurement light toward a measurement surface of a measurement object (7) in a space, receives reflected light resulting from the reflection of the measurement light by the measurement surface of the measurement object (7), and outputs the reflected light as reflected light for measurement; a reference light path through which output light for reference based on the swept light from the wavelength-swept light source (1) is output as reference light; a measurement information acquisition unit (5) which combines the reflected light for measurement from the irradiation optical system (3) with the reference light from the reference light path and outputs information for measurement in which the combined interference light has been photoelectrically converted; and an information processing unit (6) which obtains spectral information by subjecting the information for measurement from the measurement information acquisition unit (5) to a Fourier transformation, obtains an intensity distribution at spectral peaks in the horizontal direction of the measurement surface of the measurement object (7) on the basis of the obtained spectral information, and obtains the slope of the spectral intensity distribution.
Ce dispositif de mesure optique comprend : une source de lumière (1) à balayage de longueur d'onde qui émet une lumière balayée, dont la longueur d'onde change en continu avec le temps ; un système optique (3) d'exposition à un rayonnement qui émet une lumière de sortie pour une mesure, qui est basée sur la lumière balayée en provenance de la source de lumière (1) à balayage de longueur d'onde, en tant que lumière de mesure vers une surface de mesure d'un objet de mesure (7) dans un espace, reçoit une lumière réfléchie résultant de la réflexion de la lumière de mesure par la surface de mesure de l'objet de mesure (7), et délivre la lumière réfléchie en tant que lumière réfléchie pour une mesure ; un trajet de lumière de référence à travers lequel une lumière de sortie pour une référence sur la base de la lumière balayée en provenance de la source de lumière (1) à balayage de longueur d'onde est délivrée en tant que lumière de référence ; une unité |
| format | Patent |
| fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2024105834A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2024105834A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2024105834A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZIj0DwjxdHb0UfB1dQwODXL1dfULUXBxDfN0dtVRcHQODPUM9gzx9PcDyod4-LugigUE-bsHOfoCBf1cFIJcnf2DXDz93IFKXTxDfXkYWNMSc4pTeaE0N4Oym2uIs4duakF-fGpxQWJyal5qSXy4v5GBkYmhgamFsYmjoTFxqgDvPjJs</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>OPTICAL MEASUREMENT DEVICE, ACQUISITION METHOD, ACQUISITION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM</title><source>esp@cenet</source><creator>SONO, Naoki ; YAMAUCHI, Takanori ; GOTO, Hiroki ; IMAKI, Masaharu ; KOTAKE, Nobuki</creator><creatorcontrib>SONO, Naoki ; YAMAUCHI, Takanori ; GOTO, Hiroki ; IMAKI, Masaharu ; KOTAKE, Nobuki</creatorcontrib><description>This optical measurement device comprises: a wavelength-swept light source (1) which outputs swept light, the wavelength of which continuously changes with time; an irradiation optical system (3) which emits output light for measurement, which is based on the swept light from the wavelength-swept light source (1), as measurement light toward a measurement surface of a measurement object (7) in a space, receives reflected light resulting from the reflection of the measurement light by the measurement surface of the measurement object (7), and outputs the reflected light as reflected light for measurement; a reference light path through which output light for reference based on the swept light from the wavelength-swept light source (1) is output as reference light; a measurement information acquisition unit (5) which combines the reflected light for measurement from the irradiation optical system (3) with the reference light from the reference light path and outputs information for measurement in which the combined interference light has been photoelectrically converted; and an information processing unit (6) which obtains spectral information by subjecting the information for measurement from the measurement information acquisition unit (5) to a Fourier transformation, obtains an intensity distribution at spectral peaks in the horizontal direction of the measurement surface of the measurement object (7) on the basis of the obtained spectral information, and obtains the slope of the spectral intensity distribution.
Ce dispositif de mesure optique comprend : une source de lumière (1) à balayage de longueur d'onde qui émet une lumière balayée, dont la longueur d'onde change en continu avec le temps ; un système optique (3) d'exposition à un rayonnement qui émet une lumière de sortie pour une mesure, qui est basée sur la lumière balayée en provenance de la source de lumière (1) à balayage de longueur d'onde, en tant que lumière de mesure vers une surface de mesure d'un objet de mesure (7) dans un espace, reçoit une lumière réfléchie résultant de la réflexion de la lumière de mesure par la surface de mesure de l'objet de mesure (7), et délivre la lumière réfléchie en tant que lumière réfléchie pour une mesure ; un trajet de lumière de référence à travers lequel une lumière de sortie pour une référence sur la base de la lumière balayée en provenance de la source de lumière (1) à balayage de longueur d'onde est délivrée en tant que lumière de référence ; une unité d'acquisition (5) d'informations de mesure qui associe la lumière réfléchie pour une mesure en provenance du système optique (3) d'exposition à un rayonnement avec la lumière de référence en provenance du trajet de lumière de référence et délivre des informations pour une mesure dans lesquelles la lumière d'interférence associée a été convertie de manière photoélectrique ; et une unité de traitement (6) d'informations qui obtient des informations spectrales en soumettant les informations pour une mesure de l'unité d'acquisition (5) d'informations de mesure à une transformation de Fourier, obtient une distribution d'intensité au niveau de pics spectraux dans la direction horizontale de la surface de mesure de l'objet de mesure (7) sur la base des informations spectrales obtenues, et obtient la pente de la distribution d'intensité spectrale.
光測定装置は、時間に対して波長が連続的に変化する掃引光を出力する波長掃引光源（１）と、波長掃引光源（１）からの掃引光による測定用出力光を測定対象物（７）の測定面に向けて空間に測定光として出射し、測定対象物（７）の測定面が測定光を反射した反射光を受けて測定用反射光として出力する照射光学系（３）と、波長掃引光源（１）からの掃引光による参照用出力光を参照光として出力する参照光経路と、照射光学系（３）からの測定用反射光と参照光経路からの参照光とを合波し、合波された干渉光を光電変換した測定用情報を出力する測定情報取得部（５）と、測定情報取得部（５）からの測定用情報をフーリエ変換してスペクトルの情報を得、得たスペクトルの情報に基づき測定対象物（７）の測定面における水平方向のスペクトルのピークにおける強度分布を得、スペクトルの強度分布の傾きを得る情報処理部（６）と、を備える。</description><language>eng ; fre ; jpn</language><subject>ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES ; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES ; GYROSCOPIC INSTRUMENTS ; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION ORRERADIATION OF RADIO WAVES ; MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; NAVIGATION ; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY ; PHYSICS ; RADIO DIRECTION-FINDING ; RADIO NAVIGATION ; SURVEYING ; TESTING</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240523&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2024105834A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,777,882,25545,76296</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240523&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2024105834A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>SONO, Naoki</creatorcontrib><creatorcontrib>YAMAUCHI, Takanori</creatorcontrib><creatorcontrib>GOTO, Hiroki</creatorcontrib><creatorcontrib>IMAKI, Masaharu</creatorcontrib><creatorcontrib>KOTAKE, Nobuki</creatorcontrib><title>OPTICAL MEASUREMENT DEVICE, ACQUISITION METHOD, ACQUISITION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM</title><description>This optical measurement device comprises: a wavelength-swept light source (1) which outputs swept light, the wavelength of which continuously changes with time; an irradiation optical system (3) which emits output light for measurement, which is based on the swept light from the wavelength-swept light source (1), as measurement light toward a measurement surface of a measurement object (7) in a space, receives reflected light resulting from the reflection of the measurement light by the measurement surface of the measurement object (7), and outputs the reflected light as reflected light for measurement; a reference light path through which output light for reference based on the swept light from the wavelength-swept light source (1) is output as reference light; a measurement information acquisition unit (5) which combines the reflected light for measurement from the irradiation optical system (3) with the reference light from the reference light path and outputs information for measurement in which the combined interference light has been photoelectrically converted; and an information processing unit (6) which obtains spectral information by subjecting the information for measurement from the measurement information acquisition unit (5) to a Fourier transformation, obtains an intensity distribution at spectral peaks in the horizontal direction of the measurement surface of the measurement object (7) on the basis of the obtained spectral information, and obtains the slope of the spectral intensity distribution.
Ce dispositif de mesure optique comprend : une source de lumière (1) à balayage de longueur d'onde qui émet une lumière balayée, dont la longueur d'onde change en continu avec le temps ; un système optique (3) d'exposition à un rayonnement qui émet une lumière de sortie pour une mesure, qui est basée sur la lumière balayée en provenance de la source de lumière (1) à balayage de longueur d'onde, en tant que lumière de mesure vers une surface de mesure d'un objet de mesure (7) dans un espace, reçoit une lumière réfléchie résultant de la réflexion de la lumière de mesure par la surface de mesure de l'objet de mesure (7), et délivre la lumière réfléchie en tant que lumière réfléchie pour une mesure ; un trajet de lumière de référence à travers lequel une lumière de sortie pour une référence sur la base de la lumière balayée en provenance de la source de lumière (1) à balayage de longueur d'onde est délivrée en tant que lumière de référence ; une unité d'acquisition (5) d'informations de mesure qui associe la lumière réfléchie pour une mesure en provenance du système optique (3) d'exposition à un rayonnement avec la lumière de référence en provenance du trajet de lumière de référence et délivre des informations pour une mesure dans lesquelles la lumière d'interférence associée a été convertie de manière photoélectrique ; et une unité de traitement (6) d'informations qui obtient des informations spectrales en soumettant les informations pour une mesure de l'unité d'acquisition (5) d'informations de mesure à une transformation de Fourier, obtient une distribution d'intensité au niveau de pics spectraux dans la direction horizontale de la surface de mesure de l'objet de mesure (7) sur la base des informations spectrales obtenues, et obtient la pente de la distribution d'intensité spectrale.
光測定装置は、時間に対して波長が連続的に変化する掃引光を出力する波長掃引光源（１）と、波長掃引光源（１）からの掃引光による測定用出力光を測定対象物（７）の測定面に向けて空間に測定光として出射し、測定対象物（７）の測定面が測定光を反射した反射光を受けて測定用反射光として出力する照射光学系（３）と、波長掃引光源（１）からの掃引光による参照用出力光を参照光として出力する参照光経路と、照射光学系（３）からの測定用反射光と参照光経路からの参照光とを合波し、合波された干渉光を光電変換した測定用情報を出力する測定情報取得部（５）と、測定情報取得部（５）からの測定用情報をフーリエ変換してスペクトルの情報を得、得たスペクトルの情報に基づき測定対象物（７）の測定面における水平方向のスペクトルのピークにおける強度分布を得、スペクトルの強度分布の傾きを得る情報処理部（６）と、を備える。</description><subject>ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES</subject><subject>DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES</subject><subject>GYROSCOPIC INSTRUMENTS</subject><subject>LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION ORRERADIATION OF RADIO WAVES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>NAVIGATION</subject><subject>PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>RADIO DIRECTION-FINDING</subject><subject>RADIO NAVIGATION</subject><subject>SURVEYING</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZIj0DwjxdHb0UfB1dQwODXL1dfULUXBxDfN0dtVRcHQODPUM9gzx9PcDyod4-LugigUE-bsHOfoCBf1cFIJcnf2DXDz93IFKXTxDfXkYWNMSc4pTeaE0N4Oym2uIs4duakF-fGpxQWJyal5qSXy4v5GBkYmhgamFsYmjoTFxqgDvPjJs</recordid><startdate>20240523</startdate><enddate>20240523</enddate><creator>SONO, Naoki</creator><creator>YAMAUCHI, Takanori</creator><creator>GOTO, Hiroki</creator><creator>IMAKI, Masaharu</creator><creator>KOTAKE, Nobuki</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20240523</creationdate><title>OPTICAL MEASUREMENT DEVICE, ACQUISITION METHOD, ACQUISITION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM</title><author>SONO, Naoki ; YAMAUCHI, Takanori ; GOTO, Hiroki ; IMAKI, Masaharu ; KOTAKE, Nobuki</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2024105834A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre ; jpn</language><creationdate>2024</creationdate><topic>ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES</topic><topic>DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES</topic><topic>GYROSCOPIC INSTRUMENTS</topic><topic>LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION ORRERADIATION OF RADIO WAVES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>NAVIGATION</topic><topic>PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>RADIO DIRECTION-FINDING</topic><topic>RADIO NAVIGATION</topic><topic>SURVEYING</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>SONO, Naoki</creatorcontrib><creatorcontrib>YAMAUCHI, Takanori</creatorcontrib><creatorcontrib>GOTO, Hiroki</creatorcontrib><creatorcontrib>IMAKI, Masaharu</creatorcontrib><creatorcontrib>KOTAKE, Nobuki</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>SONO, Naoki</au><au>YAMAUCHI, Takanori</au><au>GOTO, Hiroki</au><au>IMAKI, Masaharu</au><au>KOTAKE, Nobuki</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>OPTICAL MEASUREMENT DEVICE, ACQUISITION METHOD, ACQUISITION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM</title><date>2024-05-23</date><risdate>2024</risdate><abstract>This optical measurement device comprises: a wavelength-swept light source (1) which outputs swept light, the wavelength of which continuously changes with time; an irradiation optical system (3) which emits output light for measurement, which is based on the swept light from the wavelength-swept light source (1), as measurement light toward a measurement surface of a measurement object (7) in a space, receives reflected light resulting from the reflection of the measurement light by the measurement surface of the measurement object (7), and outputs the reflected light as reflected light for measurement; a reference light path through which output light for reference based on the swept light from the wavelength-swept light source (1) is output as reference light; a measurement information acquisition unit (5) which combines the reflected light for measurement from the irradiation optical system (3) with the reference light from the reference light path and outputs information for measurement in which the combined interference light has been photoelectrically converted; and an information processing unit (6) which obtains spectral information by subjecting the information for measurement from the measurement information acquisition unit (5) to a Fourier transformation, obtains an intensity distribution at spectral peaks in the horizontal direction of the measurement surface of the measurement object (7) on the basis of the obtained spectral information, and obtains the slope of the spectral intensity distribution.
Ce dispositif de mesure optique comprend : une source de lumière (1) à balayage de longueur d'onde qui émet une lumière balayée, dont la longueur d'onde change en continu avec le temps ; un système optique (3) d'exposition à un rayonnement qui émet une lumière de sortie pour une mesure, qui est basée sur la lumière balayée en provenance de la source de lumière (1) à balayage de longueur d'onde, en tant que lumière de mesure vers une surface de mesure d'un objet de mesure (7) dans un espace, reçoit une lumière réfléchie résultant de la réflexion de la lumière de mesure par la surface de mesure de l'objet de mesure (7), et délivre la lumière réfléchie en tant que lumière réfléchie pour une mesure ; un trajet de lumière de référence à travers lequel une lumière de sortie pour une référence sur la base de la lumière balayée en provenance de la source de lumière (1) à balayage de longueur d'onde est délivrée en tant que lumière de référence ; une unité d'acquisition (5) d'informations de mesure qui associe la lumière réfléchie pour une mesure en provenance du système optique (3) d'exposition à un rayonnement avec la lumière de référence en provenance du trajet de lumière de référence et délivre des informations pour une mesure dans lesquelles la lumière d'interférence associée a été convertie de manière photoélectrique ; et une unité de traitement (6) d'informations qui obtient des informations spectrales en soumettant les informations pour une mesure de l'unité d'acquisition (5) d'informations de mesure à une transformation de Fourier, obtient une distribution d'intensité au niveau de pics spectraux dans la direction horizontale de la surface de mesure de l'objet de mesure (7) sur la base des informations spectrales obtenues, et obtient la pente de la distribution d'intensité spectrale.
光測定装置は、時間に対して波長が連続的に変化する掃引光を出力する波長掃引光源（１）と、波長掃引光源（１）からの掃引光による測定用出力光を測定対象物（７）の測定面に向けて空間に測定光として出射し、測定対象物（７）の測定面が測定光を反射した反射光を受けて測定用反射光として出力する照射光学系（３）と、波長掃引光源（１）からの掃引光による参照用出力光を参照光として出力する参照光経路と、照射光学系（３）からの測定用反射光と参照光経路からの参照光とを合波し、合波された干渉光を光電変換した測定用情報を出力する測定情報取得部（５）と、測定情報取得部（５）からの測定用情報をフーリエ変換してスペクトルの情報を得、得たスペクトルの情報に基づき測定対象物（７）の測定面における水平方向のスペクトルのピークにおける強度分布を得、スペクトルの強度分布の傾きを得る情報処理部（６）と、を備える。</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
| fulltext | fulltext_linktorsrc |
| identifier | |
| ispartof | |
| issn | |
| language | eng ; fre ; jpn |
| recordid | cdi_epo_espacenet_WO2024105834A1 |
| source | esp@cenet |
| subjects | ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES GYROSCOPIC INSTRUMENTS LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION ORRERADIATION OF RADIO WAVES MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS NAVIGATION PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY PHYSICS RADIO DIRECTION-FINDING RADIO NAVIGATION SURVEYING TESTING |
| title | OPTICAL MEASUREMENT DEVICE, ACQUISITION METHOD, ACQUISITION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM |
| url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-19T12%3A21%3A12IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=SONO,%20Naoki&rft.date=2024-05-23&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2024105834A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |