A ROBUST ICEFILL METHOD TO PROVIDE VOID FREE TRENCH FILL FOR LOGIC AND MEMORY APPLICATIONS

Methods of filling a gap with a dielectric material including using an inhibition plasma during deposition. The inhibition plasma increases a nucleation barrier of the deposited film. The inhibition plasma selectively interacts near the top of the feature, inhibiting deposition at the top of the fea...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: BAKER, Jonathan Grant, BHANDARI, Shiva Sharan, IMADE, Mamoru, AGARWAL, Pulkit, PETRAGLIA, Jennifer Leigh
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Methods of filling a gap with a dielectric material including using an inhibition plasma during deposition. The inhibition plasma increases a nucleation barrier of the deposited film. The inhibition plasma selectively interacts near the top of the feature, inhibiting deposition at the top of the feature compared to the bottom of the feature, enhancing bottom-up fill. L'invention concerne des procédés de remplissage d'un espace avec un matériau diélectrique consistant à utiliser un plasma inhibiteur pendant le dépôt. Le plasma inhibiteur augmente une barrière de nucléation du film déposé. Le plasma inhibiteur interagit sélectivement à proximité de la partie supérieure de l'élément, inhibant le dépôt au sommet de l'élément par rapport au fond de l'élément, améliorant le remplissage de bas en haut.