MULTILAYER SUBSTRATE, COMPOSITE FILTER, COMMUNICATION DEVICE, INSPECTION METHOD FOR MULTILAYER SUBSTRATE, PRODUCTION METHOD FOR MULTILAYER SUBSTRATE, AND PRODUCTION METHOD FOR COMPOSITE FILTER

The present invention makes it possible to efficiently inspect product patterns on a multilayer substrate. A multilayer substrate according to the present invention has an inspection pattern and a plurality of product patterns that are to be connected to respective electronic components after singulation. The inspection pattern includes at least a portion of a first pattern. The product patterns include the first pattern and a terminal for connecting the first pattern to an electronic component. La présente invention permet d'inspecter efficacement des motifs de produit sur un substrat multicouche. Un substrat multicouche selon la présente invention a un motif d'inspection et une pluralité de motifs de produit qui doivent être connectés à des composants électroniques respectifs après séparation. Le motif d'inspection comprend au moins une partie d'un premier motif. Les motifs de produit comprennent le premier motif et une borne pour connecter le premier motif à un composant électronique. 多層基板の製品パターンを効率的に検査する。多層基板は、検査パターンと、個片化された後にそれぞれ電子部品に接続される、複数の製品パターンと、を有している。前記検査パターンは、第１パターンの少なくとも一部を有している。前記製品パターンは、前記第１パターンと、前記第１パターンを前記電子部品に接続するための端子と、を有している。